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(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115863504A(43)申请公布日2023.03.28(21)申请号202211489363.7(22)申请日2022.11.25(71)申请人厦门乾照光电股份有限公司地址361101福建省厦门市厦门火炬高新区(翔安)产业区翔天路259-269号(72)发明人万志王莎莎史成丹卓祥景程伟金张育(51)Int.Cl.H01L33/06(2010.01)H01L33/12(2010.01)H01L33/32(2010.01)H01L33/44(2010.01)H01L33/00(2010.01)权利要求书1页说明书6页附图4页(54)发明名称一种LED外延结构及其制备方法、LED芯片(57)摘要本发明提供了一种LED外延结构及其制备方法、LED芯片,其MQW层包括沿第一方向交替层叠生长的量子垒和量子阱,且所述量子垒包括若干组InGaN/GaN/AlGaN层,进一步地,所述量子垒的两接触面分别设有GaN层;通过InGaN/GaN/AlGaN层对电子产生多级散射,减小电子迁移速率,增加电子被MQW俘获的几率;同时,在InGaN/GaN/AlGaN的层与层之间形成反生长方向的极化电场(P→N),对空穴产生多级加速,对电子减速,增加空穴的注入效率,减少电子溢流,从而平衡载流子分布,增加辐射复合速率,提高发光效率。CN115863504ACN115863504A权利要求书1/1页1.一种LED外延结构,其特征在于,包括:衬底,及依次层叠于所述衬底表面的N型半导体层、保护层、MQW层、最后一个量子垒层以及P型半导体层;其中,所述MQW层包括沿第一方向交替层叠生长的量子垒和量子阱,所述量子垒包括若干组InGaN/GaN/AlGaN层,以形成对电子的层级散射和反生长方向的极化电场;所述第一方向垂直于所述衬底,且由所述衬底指向所述N型半导体层。2.根据权利要求1所述的LED外延结构,其特征在于,所述量子垒的两接触面分别设有GaN层。3.根据权利要求1所述的LED外延结构,其特征在于,在所述N型半导体层和MQW层之间设有保护层,且所述保护层包括交替堆叠的第二N型GaN层和UGaN层。4.根据权利要求3所述的LED外延结构,其特征在于,所述第二N型GaN层的N型掺杂浓度小于所述N型半导体层的N型掺杂浓度。5.根据权利要求1所述的LED外延结构,其特征在于,最后一个量子垒层包括GaN‑AlGaN‑AlN复合层状结构。6.根据权利要求1所述的LED外延结构,其特征在于,在所述最后一个量子垒层中,所述GaN层的厚度不小于所述AlGaN层的厚度。7.根据权利要求1所述的LED外延结构,其特征在于,在所述最后一个量子垒层中,所述AlN层的厚度不大于所述AlGaN层的厚度。8.根据权利要求1所述的LED外延结构,其特征在于,所述N型半导体层包括若干组N型掺杂的AlGaN/GaN层。9.一种LED外延结构的制备方法,其特征在于,包括:提供一衬底;在所述衬底表面依次生长N型半导体层、保护层、MQW层、最后一个量子垒层以及P型半导体层;其中,所述MQW层包括沿生长方向交替层叠生长的量子垒和量子阱,所述量子垒包括若干组InGaN/GaN/AlGaN层,以形成对电子的层级散射和反生长方向的极化电场;所述量子垒的两接触面分别设有GaN层。10.根据权利要求9所述的LED外延结构的制备方法,其特征在于,所述保护层包括交替堆叠的第二N型GaN层和UGaN层;且所述第二N型GaN层的N型掺杂浓度小于所述N型半导体层的N型掺杂浓度;所述N型半导体层包括若干组N型掺杂的AlGaN/GaN层;所述最后一个量子垒层包括GaN‑AlGaN‑AlN复合层状结构。11.根据权利要求9所述的LED外延结构的制备方法,其特征在于,在通过所述InGaN/GaN/AlGaN层,实现量子垒中In组分间断式生长的过程中,保持H2的并入,且In和H2的并入呈相反的状态。12.一种LED芯片,包括;权利要求1‑8任一项所述的LED外延结构;N型电极,所述N型电极与所述N型半导体层形成欧姆接触;P型电极,所述P型电极与所述P型半导体层形成欧姆接触。2CN115863504A说明书1/6页一种LED外延结构及其制备方法、LED芯片技术领域[0001]本发明涉及发光二极管领域,尤其涉及一种LED外延结构及其制备方法、LED芯片。背景技术[0002]近来年,III‑V族氮化物由于其优异的物理和化学特性(禁带宽度大、击穿电场高、电子饱和迁移率高等),在电学、光学领域受到广泛的关注与应用,比如目前市场上炙手可热的蓝绿光显屏产品,以及新冠疫情后热捧的紫外光杀菌消毒模组等。然而现实应用中由于材料、结构以及工艺的限制,各类新兴LED产品大规模应用依旧存在许多问题,