辅助测试装置、方法、电子设备及可读存储介质.pdf
书生****写意
亲,该文档总共16页,到这已经超出免费预览范围,如果喜欢就直接下载吧~
相关资料
辅助测试装置、方法、电子设备及可读存储介质.pdf
本申请提供一种基于消息队列的辅助测试装置、方法、电子设备及可读存储介质,其中,该装置构建前端/后端的架构,且前端包括消息配置模块、消息详情模块及消息编辑模块,后端包括消息消费模块及第二消息发布模块,可以通过前端获取基于消息队列的测试配置参数,并将测试配置参数发送至后端,以及通过前端编辑待发布的第二消息内容,后由后端根据第二消息内容及测试配置参数发布基于消息队列的第二消息,通过后端消费基于消息队列的第一消息,并将消费得到的第一消息内容发送至前端展示。本申请可以进行扩展以及兼容,若MQ的报文、主题等有修改,则
游戏中的辅助瞄准方法和装置、可读存储介质、电子设备.pdf
本公开是关于一种游戏中的辅助瞄准方法和装置、可读存储介质以及电子设备,涉及游戏技术领域,该方法包括:响应于针对所述准星的调整指令,控制调整所述准星在所述游戏场景中的瞄准方向;响应于所述准星的瞄准方向与一目标虚拟对象相对于所述第一虚拟对象的方向之间的夹角小于或等于预设角度,获取所述目标虚拟对象的可瞄准区域,所述可瞄准区域为所述目标虚拟对象在所述游戏视野画面中未被遮挡的部分;响应于对所述准星在所述游戏场景中的瞄准方向的控制调整,在所述可瞄准区域内确定一目标射击点,以及根据所述准星的瞄准方向与所述目标射击点之间
DRAM测试方法、装置、可读存储介质及电子设备.pdf
本发明公开一种DRAM测试方法、装置、可读存储介质及电子设备,通过对待测试的DRAM进行两轮测试,基于预设间隔以预设测试单元为单位对待测试的DRAM的每一第一预设读写单元进行遍历直至遍历完待测试的DRAM的所有存储单元,对于遍历到的目标测试单元,基于预设测试数据向目标测试单元进行数据读写操作,将读取的数据与对应写入的数据进行比较,通过两轮测试的比较结果得到最终测试结果,能够模拟具有一定间隔的非连续的访问方式,覆盖此前的测试盲区并检测出现有技术中较难被发现的芯片缺陷,使桥接故障和耦合故障等多存储单元故障得到
DRAM测试方法、装置、可读存储介质及电子设备.pdf
本发明公开了一种DRAM测试方法、装置、可读存储介质及电子设备,通过对待测试的DRAM进行两轮测试,对于遍历到的目标预设操作位,基于预设测试数据向目标预设操作位及与目标预设操作位相邻的相邻预设操作位按照预设顺序进行数据读写操作,将读取的数据与对应写入的数据进行比较,通过两轮测试的比较结果得到最终测试结果,由于耦合故障在特定情况下才能够被激发,比如相邻的存储单元之间存在大幅度的电势差,向目标预设操作位及相邻预设操作位进行数据写入和读取,模拟该情况,覆盖此前的测试盲区并检测出现有技术中较难被发现的芯片缺陷,使
测试方法、装置、电子设备以及可读存储介质.pdf
本申请实施例公开了一种测试方法、装置、电子设备以及可读存储介质,该方法包括:对于待测试用例中的每个测试用例,获取每个测试用例在设定的测试设备组中对应的各测试设备上的历史测试时长,其中,每个测试用例至少在该测试设备组的一个测试设备上进行过一次测试;基于各测试用例各自对应的历史测试时长,确定各测试用例的测试平均时长;根据各测试用例的测试平均时长,确定由该设定的测试设备组完成所有测试用例的一次测试所需的时长阈值;根据时长阈值和各测试用例的测试平均时长,确定各测试用例在该测试设备组中分配到的目标测试设备,从而完成