测试方法、装置、电子设备以及可读存储介质.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN113743040A(43)申请公布日2021.12.03(21)申请号202111040017.6(22)申请日2021.09.06(71)申请人海宁奕斯伟集成电路设计有限公司地址314400浙江省嘉兴市海宁市海宁经济开发区双联路128号科创中心B座263室申请人北京奕斯伟计算技术有限公司(72)发明人陈健蒋科(74)专利代理机构北京市立方律师事务所11330代理人张筱宁(51)Int.Cl.G06F30/33(2020.01)G06F9/50(2006.01)权利要求书2页说明书14页附图3页(54)发明名称测试方法、装置、电子设备以及可读存储介质(57)摘要本申请实施例公开了一种测试方法、装置、电子设备以及可读存储介质，该方法包括：对于待测试用例中的每个测试用例，获取每个测试用例在设定的测试设备组中对应的各测试设备上的历史测试时长，其中，每个测试用例至少在该测试设备组的一个测试设备上进行过一次测试；基于各测试用例各自对应的历史测试时长，确定各测试用例的测试平均时长；根据各测试用例的测试平均时长，确定由该设定的测试设备组完成所有测试用例的一次测试所需的时长阈值；根据时长阈值和各测试用例的测试平均时长，确定各测试用例在该测试设备组中分配到的目标测试设备，从而完成对各待测试用例的测试。采用本申请实施例中方法，可有效提高测试效率。CN113743040ACN113743040A权利要求书1/2页1.一种测试方法，其特征在于，所述方法包括：对于待测试用例中的每个测试用例，获取每个所述测试用例在设定的测试设备组中对应的各测试设备上的历史测试时长，其中，每个所述测试用例至少在该测试设备组的一个测试设备上进行过一次测试；基于各测试用例各自对应的历史测试时长，确定各测试用例的测试平均时长；根据各测试用例的测试平均时长，确定由该设定的测试设备组完成所有测试用例的一次测试所需的时长阈值；根据所述时长阈值和各测试用例的测试平均时长，确定各测试用例在该测试设备组中分配到的目标测试设备，从而完成对各待测试用例的测试。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述时长阈值和各测试用例的测试平均时长，确定各测试用例在该测试设备组中分配到的目标测试设备，包括：按照各测试用例的测试平均时长由长至短的顺序，依次将对应的测试用例配置到不同的测试设备，作为已分配的测试用例的目标测试设备；对于未分配的其他测试用例的每一个测试用例，通过如下操作来确定该测试用例对应的目标测试设备：确定每个测试设备的总测试时长，所述总测试时长为已经分配至测试设备的各测试用例的测试平均时长之和；分别确定各测试用例的测试平均时长和每个测试设备的总测试时长的时长和，将与所述时长阈值的差值最小的时长和所对应的测试设备，确定为该测试用例对应的目标测试设备。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：记录各所述测试用例在各自对应的目标测试设备进行测试所用的新的测试时长；基于各测试用例各自对应的历史测试时长和新的测试时长，确定各测试用例对应的新的测试平均时长；根据各所述测试用例各自对应的新的测试平均时长，确定由该设定的测试设备组完成所有所述测试用例的一次测试所需的新的时长阈值。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据各测试用例的测试平均时长，确定由该设定的测试设备组完成所有测试用例的一次测试所需的时长阈值，包括：计算各测试用例的测试平均时长之和，根据各测试用例的测试平均时长之和与该设定测试设备组中测试设备的数量，确定由该测试设备组完成所有测试用例的一次测试所需的时长阈值。5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，若存在未在所有测试设备上进行过测试的第一测试用例，则通过如下操作来计算该测试用例的测试平均时长：利用第二测试用例在不同测试设备上的历史测试时长，确定不同测试设备之间的测试时长的转换系数，所述第二测试用例为在该测试设备组中的各设备上都测试过的测试用例之一，所述转换系数为同一个测试用例在两个测试设备上进行测试所用的测试时长的比值；根据所述第一测试用例在对其测试过的测试设备上的历史测试时长和各测试设备之间的测试时长的转换系数，预测该第一测试用例在未对其测试过的测试设备上的测试时2CN113743040A权利要求书2/2页长；根据所述第一测试用例的历史测试时长和预测得到的各测试时长，确定所述第一测试用例的测试平均时长。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在在于，所述第二测试用例包括：与所述第一测试用例在同一测试设备上进行测试所用的历史测试时长之间的差值小于或等于预设时长的测试用例。7.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，在所述根据所述时长阈值和各测试用例的测试平均时