集成芯片及其形成方法.pdf
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集成芯片及其形成方法.pdf
本发明涉及集成芯片。集成芯片包括设置在衬底内并且围绕有源区的隔离区域。栅极结构设置在衬底上方并且具有基极区域和栅极延伸指状件,该栅极延伸指状件沿着第一方向从基极区域的侧壁向外突出超出有源区的相对侧。源极接触件设置在有源区内,并且漏极接触件设置在有源区内并且通过栅极延伸指状件与源极接触件分隔开。第一多个导电接触件布置在栅极结构上并且沿着第一方向分隔开。第一多个导电接触件在栅极延伸指状件上面分隔开距离。本发明的实施例还涉及形成集成芯片的方法。
集成芯片结构及其形成方法.pdf
本公开涉及一种集成芯片结构及其形成方法。集成芯片结构包括设置在衬底上方的介电结构内的底部电极。顶部电极设置在底部电极上方的介电结构内。转换层和离子源层位于底部电极和顶部电极之间。阻挡结构位于底部电极和顶部电极之间。阻挡结构包括金属氮化物,该金属氮化物被配置为在高温制造工艺期间减轻金属的热扩散。
集成芯片和形成集成芯片的方法.pdf
本发明的实施例提供了一种集成芯片,包括衬底;下部介电结构,位于衬底上方;互连件,位于下部介电结构内;蚀刻停止层,位于下部介电结构上方;层间介电层,位于蚀刻停止层上方;一个或多个开口,延伸穿过层间介电层和蚀刻停止层;存储器单元,包括设置在一个或多个开口上方和一个或多个开口内下部电极、数据存储层和上部电极;其中,下部电极、数据存储层和上部电极中的每个延伸到一个或多个开口中并且位于横向于一个或多个开口的层间介电层上方。本发明的实施例还提供了形成集成芯片的方法。
集成电路芯片以及用于形成集成电路芯片的方法.pdf
本申请的各种实施例针对包括前段制程(FEOL)衬底上半导体贯通孔(TSV)的集成电路(IC)芯片以及用于形成该IC芯片的方法。在一些实施例中,半导体层位于衬底上。半导体层可以例如是或包括III‑V族半导体和/或一些其他合适的半导体。半导体器件位于半导体层上,并且FEOL层位于半导体器件上。FEOLTSV在IC芯片的外围处延伸穿过FEOL层和半导体层至衬底。金属间介电(IMD)层位于FEOLTSV和FEOL层上,并且引线和通孔的交替堆叠件位于IMD层中。
集成芯片结构及其制造方法.pdf
本公开的实施例涉及集成芯片结构和制造集成芯片结构的方法。该方法在衬底上形成中间第一材料层和在中间第一材料层上形成中间第二材料层。图案化中间第二材料层以形成绝缘层。图案化中间第一材料层以形成具有从绝缘层的最外侧壁向内缩进的最外侧壁的第一材料层。对绝缘层执行离子轰击工艺以从绝缘层中移出一个或多个原子。执行再沉积工艺以将一个或多个原子再沉积到第一材料层的最外侧壁上并在绝缘层下方形成自填充间隔件。