图像获取方法、图像获取装置、结构光组件及电子装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN109120837A(43)申请公布日2019.01.01(21)申请号201811288787.0(22)申请日2018.10.31(71)申请人OPPO广东移动通信有限公司地址523860广东省东莞市长安镇乌沙海滨路18号(72)发明人张学勇(74)专利代理机构北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201代理人张润(51)Int.Cl.H04N5/225(2006.01)H04B10/564(2013.01)H04B10/516(2013.01)H04B10/50(2013.01)权利要求书3页说明书33页附图24页(54)发明名称图像获取方法、图像获取装置、结构光组件及电子装置(57)摘要本申请公开了一种图像获取方法、图像获取装置、结构光组件和电子装置。图像获取方法包括：控制结构光摄像头接收出射时经显示屏的显示区衍射并被目标物体反射后入射时再经显示区衍射的结构光以得到散斑图像；根据散斑图像中的第一测量斑点、第二测量斑点、及第三测量斑点与参考图像中的参考斑点获取深度图像。本申请实施方式的图像获取方法在结构光投射器和结构光摄像头均位于显示屏的背面所在一侧，且结构光摄像头接收的是穿过显示区两次的被调制的结构光时，处理器可直接基于第一测量斑点、第二测量斑点以及第三测量斑点计算深度图像，显示屏的衍射作用增加了测量斑点的数量和测量斑点排布的随机性，有利于提升深度图像的获取精度。CN109120837ACN109120837A权利要求书1/3页1.一种图像获取方法，其特征在于，所述图像获取方法包括：控制结构光摄像头接收出射时经显示屏的显示区衍射并被目标物体反射后入射时再经所述显示区衍射的结构光以得到散斑图像，所述散斑图像中包括多个测量斑点，多个所述测量斑点包括激光仅被结构光投射器的衍射光学元件衍射并被所述目标物体反射形成的第一测量斑点、激光经过所述衍射光学元件一次衍射再由所述显示屏二次衍射并被所述目标物体反射形成的第二测量斑点、及激光经过所述衍射光学元件一次衍射再由所述显示屏二次衍射并被所述目标物体反射后又一次由所述显示屏三次衍射形成的第三测量斑点；及根据所述散斑图像中的所述第一测量斑点、所述第二测量斑点、及所述第三测量斑点与参考图像中的参考斑点获取深度图像。2.根据权利要求1所述的图像获取方法，其特征在于，所述参考图像中包括多个所述参考斑点，所述根据所述散斑图像中的所述第一测量斑点、所述第二测量斑点、及所述第三斑点与参考图像中的参考斑点获取深度图像，包括：计算所有所述测量斑点相对于所有所述参考斑点的偏移量；及根据所述偏移量计算深度数据以得到所述深度图像。3.根据权利要求2所述的图像获取方法，其特征在于，所述图像获取方法还包括：在标定所述参考图像时，控制所述结构光摄像头接收出射时经所述显示区衍射并被标定物体反射后入射时再经所述显示区衍射的结构光以得到所述参考图像，所述参考图像中包括多个所述参考斑点。4.根据权利要求1所述的图像获取方法，其特征在于，所述参考图像中包括多个所述参考斑点，多个所述参考斑点包括激光仅被所述衍射光学元件衍射并被标定物体反射形成的第一参考斑点、激光经过所述衍射光学元件一次衍射再由所述显示屏二次衍射并被所述标定物体反射形成的第二参考斑点、及激光经过所述衍射光学元件一次衍射再由显示屏二次衍射并被所述标定物体反射后又一次由所述显示屏三次衍射形成的第三参考斑点，所述根据所述散斑图像中的所述第一测量斑点、所述第二测量斑点、及所述第三测量斑点与参考图像中的参考斑点计算深度图像，包括：计算所述第一测量斑点相对于所述第一参考斑点的偏移量、所述第二测量斑点相对于所述第二参考斑点的偏移量、以及所述第三测量斑点相对于所述第三参考斑点的偏移量；及根据所述偏移量计算深度数据以得到所述深度图像。5.根据权利要求4所述的图像获取方法，其特征在于，所述图像获取方法还包括：在标定所述参考图像时，控制所述结构光摄像头接收从所述结构光投射器出射后直接被所述标定物体反射并直接入射的结构光以得到第一参考图像，所述第一参考图像中包括多个所述参考斑点，多个所述参考斑点包括多个激光仅被所述衍射光学元件衍射并被所述标定物体反射形成的所述第一参考斑点；在标定所述参考图像时，控制所述结构光摄像头接收出射时经所述显示区衍射并被所述标定物体反射后直接入射的结构光以得到第二参考图像，所述第二参考图像中包括多个所述参考斑点，多个所述参考斑点包括激光仅被所述衍射光学元件衍射并被所述标定物体反射形成的所述第一参考斑点和激光经过所述衍射光学元件一次衍射再由所述显示屏二2CN109120837A权利要求书2/3页次衍射并被所述标定物体反射形成的所述第二参考斑点；在标定所述参考图像时，控制所述结构光摄