一种圆弧导轨的X射线在位检测装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN106645221A(43)申请公布日2017.05.10(21)申请号201610969810.7(22)申请日2016.11.07(71)申请人中国工程物理研究院机械制造工艺研究所地址621999四川省绵阳市919信箱622分箱(72)发明人张连新鱼胜利夏欢蓝河李尚政崔海龙王增勇孙朝明(74)专利代理机构中国工程物理研究院专利中心51210代理人翟长明韩志英(51)Int.Cl.G01N23/04(2006.01)权利要求书1页说明书2页附图1页(54)发明名称一种圆弧导轨的X射线在位检测装置(57)摘要本发明公开了一种圆弧导轨的X射线在位检测装置，可应用在小直径导管挤压点焊接头的在位检测中，所述的X射线在位检测装置包括X射线发射器、支撑架、圆弧导轨、滑块、锁紧机构、DR成像板、底板。本发明中采用一种圆弧导轨替代轴系，并采用支撑架两端分别固定X射线发射器和DR成像板，一方面简化结构、优化机构空间，使得X射线在位检测装置整体尺寸大大减小，另一方面实现检测装置中X射线发射器和DR成像板围绕被检测焊封同步旋转，实现了挤压焊封焊接盲管的两个方向的X射线检测，减少了人工调节，提高了检测效率。CN106645221ACN106645221A权利要求书1/1页1.一种圆弧导轨的X射线在位检测装置，其特征在于，所述的X射线在位检测装置包括X射线发射器（1）、支撑架（2）、圆弧导轨（3）、滑块（4）、锁紧块Ⅰ（5）、锁紧块Ⅱ（8）、DR成像板（6）、底板（7）；其连接关系是，所述的圆弧导轨（3）固定设置在底板（7）中心圆孔的圆心上，滑块（4）与圆弧导轨（3）滑动连接，滑块（4）绕圆弧导轨（3）的圆心滑动；支撑架（2）设置于滑块（4）的上表面，并与滑块（4）通过螺钉固定连接；X射线发射器（1）位于支撑架（2）的左侧，并与支撑架（2）固定连接，DR成像板（6）位于支撑架（2）右侧，并与支撑架（2）固定连接，支撑架（2）用于X射线发射器（1）、DR成像板（6）的同时转动；锁紧块Ⅰ（5）位于圆弧导轨（3）一侧的底板（7）中心圆孔的纵轴上，锁紧块Ⅱ（8）位于圆弧导轨（3）另一侧的底板（7）中心圆孔的横轴上，锁紧块Ⅰ（5）、锁紧块Ⅱ（8）分别通过螺钉固定在底板（7）上，锁紧块Ⅰ（5）与锁紧块Ⅱ（8）成九十度设置。2.根据权利要求1所述的一种圆弧导轨的X射线在位检测装置，其特征在于：所述的锁紧块Ⅰ（5）、锁紧块Ⅱ（8）与底板（7）中心圆孔同圆心设置。3.根据权利要求1所述的一种圆弧导轨的X射线在位检测装置，其特征在于：所述的锁紧块Ⅰ（5）、锁紧块Ⅱ（8）与底板（7）中心圆孔的圆心等距离设置。2CN106645221A说明书1/2页一种圆弧导轨的X射线在位检测装置技术领域[0001]本发明属于X射线在位检测技术领域，具体涉及一种圆弧导轨的X射线在位检测装置。本发明能够应用在小直径导管挤压点焊接头的在位检测，能够实现挤压焊封焊接盲管的两个方向的X射线检测。背景技术[0002]目前在对小直径导管挤压点焊接头焊缝的X射线检测中，为了检测的准确、可靠，需在导管焊接处相互垂直的两个方向分别用X射线穿透照射，从互相垂直的两个方向进行检测。由于被检测的零件与其他部件具有机械连接关系，旋转不易实现。因此采用检测装置旋转的办法，且射线源和成像板同步运动，传统的轴承支承作为回转轴系，存在回转轴系空间体积大，阻挡射线源和成像板之间的光路。检测装置中X射线发射器和DR成像板调整后需重新调节两者间位置关系，检测效率低，而通过电器元件控制旋转可有效提高检测效率，但两次在位检测之间的时间要求并不严格，采用电器元件会降低装置整体的可靠性。发明内容[0003]为了克服现有技术中X射线在位检测装置结构复杂，回转轴系体积大，检测零件尺寸小的不足，本发明提供一种圆弧导轨的X射线在位检测装置，用于小直径导管挤压点焊接头的在位检测，能够减小检测装置的整体尺寸，增加被检测零件的尺寸，实现X射线发射器和DR成像板同步旋转，减少人工调节，提高检测效率。[0004]本发明的技术方案如下：本发明的一种圆弧导轨的X射线在位检测装置，其特点是，所述的X射线在位检测装置包括X射线发射器、支撑架、圆弧导轨、滑块、锁紧块Ⅰ、锁紧块Ⅱ、DR成像板、底板。其连接关系是，所述的圆弧导轨固定设置在底板中心圆孔的圆心上，滑块与圆弧导轨滑动连接，滑块绕圆弧导轨的圆心滑动。支撑架设置于滑块的上表面，并与滑块通过螺钉固定连接。X射线发射器位于支撑架的左侧，并与支撑架固定连接，DR成像板位于支撑架右侧，并与支撑架固定连接，支撑架用于X射线发射器、DR成像板的同时转动。锁紧块Ⅰ位于圆弧导轨一侧的底板中心圆孔的纵轴上，锁紧块Ⅱ位于圆弧导轨另一侧的底板中心圆孔的横轴