X射线检测装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局*CN102253064A*(12)发明专利申请(10)申请公布号CN102253064A(43)申请公布日2011.11.23(21)申请号201110078148.3(22)申请日2011.03.30(71)申请人上海高晶金属探测设备有限公司地址200433上海市杨浦区翔殷路81号3幢2122室(72)发明人陆志文彭宁嵩吴家荣姜鑫东(74)专利代理机构上海光华专利事务所31219代理人李仪萍(51)Int.Cl.G01N23/18(2006.01)G01N23/087(2006.01)G01V5/00(2006.01)权利要求书1页说明书5页附图4页(54)发明名称X射线检测装置(57)摘要一种应用于异物检测的X射线检测装置，包括：输送线，用于输送被检物品；双光源X射线扫描设备，用于生成对被检物品进行扫描的两条X射线，所述两条X射线之间成一射线夹角；信息处理设备，与所述双光源X射线扫描设备连接，用于对所述双光源X射线扫描设备扫描得到的信息进行处理以形成图像的信息处理设备。本发明基于双光源的X射线检测装置，可以生成双X射线光源，以两个方向对被检物品进行投影，形成具有互补的两个X射线检测图像，从而解决了单光源检测装置固有的盲区问题，提高异物检测的正确率。CN1025364ACCNN110225306402253070A权利要求书1/1页1.一种应用于异物检测的X射线检测装置，其特征在于，包括：输送线，用于输送被检物品；双光源X射线扫描设备，用于生成对被检物品进行扫描的两条X射线，所述两条X射线之间成一射线夹角；信息处理设备，与所述双光源X射线扫描设备连接，用于对所述双光源X射线扫描设备扫描得到的信息进行处理以形成图像的信息处理设备。2.如权利要求1所述的X射线检测装置，其特征在于，双光源X射线扫描设备包括：第一扫描部件，包括用于生成第一X射线的第一X射线发生器和与所述第一X射线发生器对应、用于接收第一X射线的第一探测器；所述第一X射线发生器和所述第一探测器位于所述输送线的相对两侧；第二扫描部件，包括用于生成第二X射线的第二X射线发生器和与所述第二X射线发生器对应、用于接收第二X射线的第二探测器；所述第二X射线发生器和所述第二探测器位于所述输送线的相对两侧。3.如权利要求1所述的X射线检测装置，其特征在于，双光源X射线扫描设备包括：第一扫描部件，包括用于生成第一束X射线和第二束X射线的双束X射线发生器和与所述双束X射线发生器对应、用于接收第一束X射线的第一探测器；所述双束X射线发生器和所述第一探测器位于所述输送线的相对两侧；第二扫描部件，包括用于转发第二束X射线的反射镜和与所述反射镜对应、用于接收第二束X射线的第二探测器；所述反射镜和所述第二探测器位于所述输送线的相对两侧。4.如权利要求1所述的X射线检测装置，其特征在于，所述第二扫描部件与第一扫描部件之间的射线夹角为60度至150度。5.如权利要求2所述的X射线检测装置，其特征在于，所述射线夹角为60度、70度、75度、80度、90度、100度、105度、110度、120度、130度、135度、140度或150度。6.如权利要求1、2或3所述的X射线检测装置，其特征在于，所述第一扫描部件与所述输送线之间和/或所述第二扫描部件与所述输送线之间成一入射夹角。7.如权利要求6所述的X射线检测装置，其特征在于，所述入射夹角范围为15度至90度。8.如权利要求7所述的X射线检测装置，其特征在于，所述入射夹角为15度、20度、25度、30度、35度、40度、45度、50度、55度、60度、65度、75度、80度、85度或90度。9.如权利要求2或3所述的X射线检测装置，其特征在于，所述第一扫描部件还包括第一准直器，所述第二扫描部件还包括第二准直器。10.如权利要求2或3所述的X射线检测装置，其特征是，所述第一探测器和第二探测器为线扫描探测器。2CCNN110225306402253070A说明书1/5页X射线检测装置技术领域[0001]本发明涉及一种异物检测装置，特别涉及一种应用于异物检测的X射线检测装置。背景技术[0002]在现有技术中，为了防止在商品生产线上因异物混入商品以及商品破损情况的发生而导致次品出厂，通常会使用X射线检测装置对商品(例如为食品盒子或食品罐头)进行次品检查。在所述射线检测装置中，对通过输送线上连续输送来的被检查物照射X射线，利用x射线受光部检测出该x射线的透过状态，以此来判断在被检查物中是否混入有异物。[0003]目前已知食品工业用的X射线检测装置是传统的单光源X射线检测装置，即只使用由一个X射线发生器120和一个探测器122构成的单组扫描部件(还包括准直器124)与输送线10成垂直90°夹角(如图1所示)或者与输送线成水平45