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(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115984370A(43)申请公布日2023.04.18(21)申请号202211404684.2(22)申请日2022.11.10(71)申请人深圳市汇川技术股份有限公司地址518000广东省深圳市龙华新区观澜街道高新技术产业园汇川技术总部大厦(72)发明人刘胜波徐超彭瑞(74)专利代理机构深圳市世纪恒程知识产权代理事务所44287专利代理师单家健(51)Int.Cl.G06T7/73(2017.01)G06V10/75(2022.01)G06F17/18(2006.01)G06F17/11(2006.01)权利要求书2页说明书9页附图5页(54)发明名称亚像素位姿确定方法、装置、设备及存储介质(57)摘要本发明涉及机器视觉技术领域,公开了一种亚像素位姿确定方法、装置、设备及存储介质。本发明通过获取待匹配目标在多维参数空间中的像素级位姿,以像素级位姿为中心,获取预设参数空间范围内的各位姿点对应的参数空间分值,然后根据各位姿点和各位姿点对应的参数空间分值构建超密度函数,再根据超密度函数确定待匹配目标的亚像素位姿。本发明通过以像素级位姿为中心,获取预设参数空间范围内的各位姿点对应的参数空间分值,能够减少计算量,再根据超密度函数确定待匹配目标的亚像素位姿,相较于现有的通过分值插值方法或最小二乘迭代方法计算亚像素位姿,本发明上述方式能够根据超密度函数高速、高精度地计算轮廓匹配的亚像素位姿。CN115984370ACN115984370A权利要求书1/2页1.一种亚像素位姿确定方法,其特征在于,所述亚像素位姿确定方法包括以下步骤:获取待匹配目标在多维参数空间中的像素级位姿;以所述像素级位姿为中心,获取预设参数空间范围内的各位姿点对应的参数空间分值;根据各位姿点和各位姿点对应的参数空间分值构建超密度函数;根据所述超密度函数确定所述待匹配目标的亚像素位姿。2.如权利要求1所述的亚像素位姿确定方法,其特征在于,所述获取待匹配目标在多维参数空间中的像素级位姿的步骤,具体包括:获取待匹配目标在多维参数空间中的初始像素级位姿;获取所述初始像素级位姿中的各个参数维度对应的预设数量的样本点;根据所述样本点确定像素级位姿。3.如权利要求2所述的亚像素位姿确定方法,其特征在于,所述根据所述样本点确定像素级位姿的步骤,具体包括:根据所述样本点构建抛物线方程,并获取所述抛物线方程对应的极值位置;获取所述极值位置与所述初始像素级位姿之间的距离;在所述距离小于阈值距离时,将所述初始像素级位姿作为像素级位姿。4.如权利要求3所述的亚像素位姿确定方法,其特征在于,所述获取所述极值位置与所述初始像素级位姿之间的距离的步骤之后,还包括:在所述距离大于或等于阈值距离时,根据所述距离对所述初始像素级位姿进行更新,并返回所述获取所述初始像素级位姿中的各个参数维度对应的预设数量的样本点的步骤,直至所述距离小于阈值距离,获得更新后的像素级位姿;将所述更新后的像素级位姿作为像素级位姿。5.如权利要求1所述的亚像素位姿确定方法,其特征在于,所述根据各位姿点和各位姿点对应的参数空间分值构建超密度函数的步骤,具体包括:根据各位姿点和各位姿点对应的参数空间分值构建初始超密度函数;对所述初始超密度函数进行曲面拟合,获得超密度函数。6.如权利要求5所述的亚像素位姿确定方法,其特征在于,所述根据所述超密度函数确定所述待匹配目标的亚像素位姿的步骤,具体包括:获取所述超密度函数对应的驻点位姿;获取所述超密度函数对应的黑塞矩阵;根据所述驻点位姿和所述黑塞矩阵确定所述待匹配目标的亚像素位姿。7.如权利要求6所述的亚像素位姿确定方法,其特征在于,所述根据所述驻点位姿和所述黑塞矩阵确定所述待匹配目标的亚像素位姿的步骤,具体包括:将所述驻点位姿代入所述黑塞矩阵中,获得目标矩阵;在所述目标矩阵为负定矩阵时,将所述驻点位姿作为所述待匹配目标的亚像素位姿。8.一种亚像素位姿确定装置,其特征在于,所述亚像素位姿确定装置包括:位姿获取模块,用于获取待匹配目标在多维参数空间中的像素级位姿;空间分值获取模块,用于以所述像素级位姿为中心,获取预设参数空间范围内的各位姿点对应的参数空间分值;2CN115984370A权利要求书2/2页函数构建模块,用于根据各位姿点和各位姿点对应的参数空间分值构建超密度函数;亚像素位姿确定模块,用于根据所述超密度函数确定所述待匹配目标的亚像素位姿。9.一种亚像素位姿确定设备,其特征在于,所述设备包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的亚像素位姿确定程序,所述亚像素位姿确定程序配置为实现如权利要求1至7中任一项所述的亚像素位姿确定方法的步骤。10.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质上存储有亚像素位姿确定程