一种适于芯片视觉检测的芯片载架机构.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN105388166A(43)申请公布日2016.03.09(21)申请号201510927105.6(22)申请日2015.12.14(71)申请人重庆远创光电科技有限公司地址400039重庆市高新区石桥铺石杨路17号77-1及77-4万昌国际商业城三楼IT微企孵化园B108(72)发明人李志远耿世慧李熙春(74)专利代理机构上海光华专利事务所31219代理人尹丽云(51)Int.Cl.G01N21/95(2006.01)H01L21/66(2006.01)H01L21/673(2006.01)H01L21/677(2006.01)权利要求书1页说明书3页附图1页(54)发明名称一种适于芯片视觉检测的芯片载架机构(57)摘要本发明提供一种适于芯片视觉检测的芯片载架机构，包括轨道和适于在轨道上移动的芯片框架，轨道包括两根呈平行设置的钢轨，在两根钢轨正对的面上各开设有一导槽，所述芯片框架的两侧边分别嵌设在两根钢轨的导槽内来实现在轨道上的移动，在芯片框架的两侧边上分别设置有若干第一滑轮且该第一滑轮的轮面与导槽接触，在嵌设在导槽内的芯片框架两侧边的底部还设有若干第二滑轮，且第二滑轮的轮面与导槽接触，在安装位所在的芯片框架端面上还设有若干通孔，本发明可以在与安装位正对的轨道上方设置图像获取装置来获取图像并通过图像处理来判断芯片的合格检测，相比现有技术中采用人工的检测的方式，效率显得更高。CN105388166ACN105388166A权利要求书1/1页1.一种适于芯片视觉检测的芯片载架机构，其特征在于：所述芯片载架机构包括轨道和适于在轨道上移动的芯片框架，轨道包括两根呈平行设置的钢轨，在两根钢轨正对的面上各开设有一导槽，所述芯片框架的两侧边分别嵌设在两根钢轨的导槽内来实现在轨道上的移动，在芯片框架的两侧边上分别设置有若干第一滑轮且该第一滑轮的轮面与导槽接触，在嵌设在导槽内的芯片框架两侧边的底部还设有若干第二滑轮，且第二滑轮的轮面与导槽接触，在安装位所在的芯片框架端面上还设有若干通孔。2.根据权利要求1所述的适于芯片视觉检测的芯片载架机构，其特征在于：在芯片框架上还设有若干供放置芯片的安装位，该若干安装位成阵列的排列设置。3.根据权利要求2所述的适于芯片视觉检测的芯片载架机构，其特征在于：在芯片框架上包括两列安装位，每列安装位的数量为5-7个。4.根据权利要求3所述的适于芯片视觉检测的芯片载架机构，其特征在于：所述通孔设置两列安装位之间，且通孔的数量与每列的安装位数量相同。5.根据权利要求1所述的适于芯片视觉检测的芯片载架机构，其特征在于：在与第一滑轮接触的导槽上还设置有胶条，以此来增加摩擦，防止在停止芯片框架时惯性过大，造成安装位上芯片晃动的情况。6.根据权利要求1所述的适于芯片视觉检测的芯片载架机构，其特征在于：在与芯片框架的两侧边相邻的侧边上还设有连接口，适于连接供驱动芯片框架移动的驱动机构。2CN105388166A说明书1/3页一种适于芯片视觉检测的芯片载架机构技术领域[0001]本发明涉及芯片检测技术领域，特别是涉及一种适于芯片视觉检测的芯片载架机构。背景技术[0002]制约我国计算机发展和普及的关键技术之一是芯片，芯片的发展瓶颈是制造设备和生产工艺。龙芯能否普及在我国计算机上的重要因素之一就是我国芯片制造业必须掌握芯片的生产工艺。生产工艺涉及的技术很多，其中芯片制造过程中的外观检测是重要内容之一。目前芯片制造过程的外观检测系统基本上是美国INTEL和AMD公司的标准和技术。我国目前还没有一套此类芯片外观检测系统。因此我国自行开发芯片外观检测系统是对我国芯片制造是一项极其重要的项目和工程。[0003]在现有的芯片加工过程中，生产好的芯片需要进行检测以防止有缺陷的或者有瑕疵的芯片流入市场，而这一工序目前主要是通过人工来进行检测的。这种通过经验来进行检测的方式，有以下的不足：[0004]第一，人工检测一个芯片正常需要4秒时间，效率不高；[0005]第二，由于人工长时间低头检测芯片，导致头脑发晕，眼睛疲劳，很容易造成质量事故；[0006]第三，由于人工检测工位辛苦，眼睛疲劳，很多员工在这个工位工作时间都不是很久，使得工位员工调换频繁，导致品质不能保证。发明内容[0007]鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种适于芯片视觉检测的芯片载架机构，用于解决现有技术中通过人工检测芯片效果较低的问题。[0008]为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供以下技术方案：[0009]一种适于芯片视觉检测的芯片载架机构，所述芯片载架机构包括轨道和适于在轨道上移动的芯片框架，轨道包括两根呈平行设置的钢轨，在两根钢轨正对的面上各开设有一导槽，所述芯片框架的两侧边分别