一种芯片测试模块及芯片测试系统.pdf
海昌****姐淑
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一种芯片测试模块及芯片测试系统.pdf
本实用新型涉及芯片测试技术领域,公开一种芯片测试模块及芯片测试系统,芯片测试模块包括:电致变形块,电致变形块可在电压作用下沿极化方向伸缩;电路板组件,电路板组件设置于电致变形块的极化方向上的一侧,且与电致变形块电连接;以及,至少一个探针,每个探针与电路板组件背离电致变形块的一侧固定连接,且沿极化方向延伸。在上述芯片测试模块中,电路板组件与电致变形块电连接,可以精确控制电致变形块在极化方向上的伸缩量;可以准确控制探针在极化方向上的伸缩量,无损地调整探针至目标位置,降低探针和芯片受损的风险,提高使用寿命。
模块化芯片结构及芯片系统.pdf
本发明提供的一种模块化芯片结构及芯片系统,涉及电子线路技术领域,以在一定程度上优化模块化芯片结构,避免产品迭代需要进一步的优化和调整,导致开发和测试周期长的问题。本发明提供的模块化芯片结构,包括基板以及平台芯片组件;平台芯片组件包括至少两个主芯片,主芯片朝向基板的一侧形成有多个第一焊盘,基板背离主芯片的一侧形成有多个第二焊盘,且第二焊盘的数量包含至少两个主芯片所包含的第一焊盘的功能管脚的数量。
一种SiP芯片测试系统.pdf
本发明涉及一种SiP芯片测试系统,属于芯片测试领域。本发明的系统包括上位机以及测试板部分,测试板包括测试底板和测试载板。测试底板包括电源模块、监控模块和测试模块。测试载板安装在测试底板上面,通过专用的接口连接,是可拆卸的,测试载板上安装有测试插座,芯片安装在测试插座上,实现测试。本发明实现对不同SiP芯片的功能测试,提高SiP芯片测试系统的通用性,同时测试系统带有监控模块,可以监控整个测试的有效性,提高测试的准确率。
一种芯片测试方法及芯片测试机.pdf
本发明提供了一种芯片测试方法及芯片测试机,该芯片测试方法包括:在晶圆上运行第一测试向量,以对晶圆上的目标芯片进行检测,并将检测到的缺陷信息覆盖式存储到晶圆上的缺陷存储模块中;在运行第一测试向量的同时,在晶圆上多次重复运行第二测试向量,以多次提取缺陷存储模块中当前存储的缺陷信息。以在单次运行第一测试向量之后,能够输出目标芯片的大部分缺陷信息;避免了多次运行第一测试向量造成的时间浪费,而且无需反复修改测试向量,简化测试流程;且仅需占用晶圆上不多的存储空间,能够对设计了较少测试用存储器的晶圆进行测试,提高芯片测
CPU功耗测试设备、方法、系统、控制芯片及测试芯片.pdf
本说明书公开了一种CPU功耗测试设备、方法、系统、控制芯片及测试芯片。首先,通过利用控制芯片的第一片内总线、第一通用输入输出控制器、片间总线、测试芯片的第二片内总线建立控制用CPU和测试芯片的第二存储单元之间的连接,接着,利用控制用CPU从控制芯片的第一存储单元中读取测试程序,且控制用CPU可以通过第一通用输入输出控制器和所述片间总线将读取到的测试程序写入至测试芯片的第二存储单元,实现针对CPU的功耗测试所需的快速方便的测试平台的构建,提升了测试平台重复使用性和广泛适配性。