一种SiP芯片测试系统.pdf

本发明涉及一种SiP芯片测试系统,属于芯片测试领域。本发明的系统包括上位机以及测试板部分,测试板包括测试底板和测试载板。测试底板包括电源模块、监控模块和测试模块。测试载板安装在测试底板上面,通过专用的接口连接,是可拆卸的,测试载板上安装有测试插座,芯片安装在测试插座上,实现测试。本发明实现对不同SiP芯片的功能测试,提高SiP芯片测试系统的通用性,同时测试系统带有监控模块,可以监控整个测试的有效性,提高测试的准确率。