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本发明提供一种管路检测方法,包括:等离子体形成步骤、控制半导体工艺腔室的一根进气管路向腔体中提供工艺气体,并控制启辉组件电离腔体中的工艺气体以形成等离子体;识别步骤、控制光信号检测装置检测等离子体产生的光信号,并将光信号对应于各波长的幅值与各工艺气体对应的标准光信号进行比较,若光信号对应于各波长的幅值与某一工艺气体对应的标准光信号匹配,则判定对应的进气管路状态正常;重复上述步骤,以对多根进气管路进行检测。本发明提供的管路检测方法根据气体电离形成的等离子体的光信号判断工艺气体纯度,进而识别管路对应的工艺气体并检测各进气管路的气密性,提高了半导体工艺腔室的维护效率。本发明还提供一种半导体工艺腔室。