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本发明公开了一种用于天线OTA测试的球面采样方法,包括步骤1:根据待测天线口径,计算θ轴最小采样间隔Δθ及赤道线上φ轴的最小采样间隔Δφ;步骤2:计算θ点数;步骤3:取i=0,根据步骤2计算的θ点数,计算θ角度坐标θi;步骤4:根据θi取值,计算当前θi角度下的φ点数;步骤5:取j=0,根据步骤4计算的Nφi,计算φ角度坐标φij,记录当前采样点(θi,φij);步骤6:将j增加1,循环执行步骤5,直到φij≥2π或j>Nφi?1;步骤7:将i增加1,循环执行步骤3~6,直到θi≥π或i>Nθ?1,完成采样点取值。本发明在采样点数较少的情况下保证了采样精度,且可连续采样,在实现快速采样的同时,能够为研究人员提供其关心的多个主切面方向图数据。