用于有源基站天线或基站系统OTA性能的测试系统及方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN107819530A(43)申请公布日2018.03.20(21)申请号201610815225.1(22)申请日2016.09.12(71)申请人深圳市新益技术有限公司地址518000广东省深圳市南山区南海大道西桂庙路北阳光华艺大厦1栋6B,6C-27(72)发明人韩栋蒋宇陈海波王道翊郭蓉(51)Int.Cl.H04B17/15(2015.01)H04B17/29(2015.01)权利要求书1页说明书4页附图1页(54)发明名称用于有源基站天线或基站系统OTA性能的测试系统及方法(57)摘要本发明公开了一种用于有源基站天线或基站系统OTA性能的测试系统及方法，系统包括软件载体，探头阵列装置，探头控制装置，信号发射与解调装置，辅助装置，微波暗室，转台。本发明提出的方法基于微波暗室，对有源基站天线或基站系统的发射和接收性能进行测试，使用多探头对有源基站天线或基站系统辐射信号强度、质量进行采样并进行360度球面或部分截面进行微积分计算从而得出发射性能的各项评估。使用多探头轮换向有源基站天线或基站系统发射信号，在基站端获取解调指标作为采样数据，在360度球面或部分截面进行微积分计算，从而得出接收性能的各项评估，既可进行全部数据的运算得出360度全方位辐射性能，也可进行局部方位的运算得出局部辐射性能。CN107819530ACN107819530A权利要求书1/1页1.用于有源基站天线或基站系统OTA性能的测试系统及方法，其特征是，包括：探头阵列装置(2)，包括多个探头，对被测物在空间每个点上的辐射信道功率和辐射接收灵敏度进行采样或对被测物进行信号照射；探头控制装置(3)，与探头阵列装置(2)上的探头连接并连接处理装置(1)，控制不同方向上的探头和极化使能；信号发射与解调装置(4)，与探头控制装置(3)和处理装置(1)连接，处理装置控制从探头阵列装置获取采样到的信号并对采样到的信号进行解调分析得到采样数据或生成调制信号照射源；辅助装置(5)，连接被测物和处理装置(1)，控制被测物发射信号或读取被测物接收信号结果；微波暗室(6)；转台(7)；带动被测物相对于所述探头阵列装置(2)做旋转；处理装置(1)，与探头控制装置(3)信号发射与解调装置(4)连接，对采样数据的整体或部分进行微积分运算处理得出被测物的整体或部分辐射和接收性能数据。2.根据权利要求1所述的用于有源基站天线或基站系统OTA性能的测试系统及方法，其特征在于，所述多个探头为多个垂直交叉双极化探头。3.根据权利要求1所述的用于有源基站天线或基站系统OTA性能的测试系统及方法，其特征在于，所述信号发射与解调装置(4)可发射调制信号和解调调制信号。4.根据权利要求1所述的用于有源基站天线或基站系统OTA性能的测试系统及方法，其特征在于，所述辅助装置(5)可与被测物共同构成整体基站系统的补充，且所述基站系统包含有基带、射频和天线。5.根据权利要求1所述的用于有源基站天线或基站系统OTA性能的测试系统及方法，其特征在于，包括如下步骤：(a)利用探头控制装置控制不同方向上的探头和极化使能(b)利用所述探头阵列装置(5)对被测物进行信号采样或信号照射；(c)通过所述信号发射与解调装置(2)对采样到的信号进行解调分析得到采样数据或生成调制信号照射源；(d)利用所述转台(7)来带动被测物，且相对于所述探头阵列装置(2)做旋转；(e)通过所述辅助装置(5)来控制被测物发射信号或读取被测物接收信号结果；(f)将上述所有的采样数据通过软件进行计算得出发射和接收性能评价数据，完成测试；其特征在于，所述采样数据是采取被测物在空间每个点上的辐射信道功率和辐射接收灵敏度，所述计算是由软件对所述采样数据的整体或部分做微积分运算。2CN107819530A说明书1/4页用于有源基站天线或基站系统OTA性能的测试系统及方法技术领域[0001]本发明涉及无线通信技术领域，更具体的说是涉及用于有源基站天线或基站系统OTA性能的测试系统及方法。背景技术[0002]通信领域的飞速发展下，电磁环境日益复杂，人们对基站系统的性能表现不在局限于单个模块的性能表现，而是更为关注系统整体性能表现。同时基站天线复杂程度不断加大，出现了自适应MIMO类天线(有源)，有源基站天线等设备。但是，有源基站天线这类设备其无源天线部分无法与有源控制部分分离，因此无法单独对其无源天线模块的辐射性能进行独立测试。所以有源基站天线或基站系统的无线天线模块的辐射性能测试只有通过对有源基站天线整体或基站系统整体的测试来进行。显然有必要设计一种针对有源基站或基站系统整体的测试系统及测试方法。发明内容[0003]有鉴于此，本发明的第一个目的在于提供一种用于有源基站天线或基站系统OT