变异测试方法、装置、存储介质与芯片.pdf
明轩****la
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相关资料
变异测试方法、装置、存储介质与芯片.pdf
本公开涉及一种变异测试方法、装置、存储介质与芯片,该方法运用至测试设备,包括:对协议消息集中至少一个字段的值进行变异,得到测试用例;将该测试用例转发至被测设备,该测试用例用于对该被测设备进行测试;在接收到该被测设备反馈的响应消息的情况下,根据该响应消息确定该被测设备是否异常,该响应消息是该被测设备采用该测试用例进行测试后产生的消息。使用本公开提出的变异测试方法,可以对被测设备进行测试,确定被测设备能否正常运行。
芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质.pdf
本申请提供一种芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质,涉及芯片测试技术领域,该方法包括:确定芯片中时钟门控单元的目标使能端的目标寄存器;基于多个目标寄存器组合得到目标扫描链;通过目标扫描链上多个目标寄存器的设定值,生成目标使能信号;通过目标使能信号,控制时钟门控单元中目标使能端对应的目标时钟门控单元开启或关闭。本申请能够在生成目标扫描链的基础上,通过控制寄存器的值以控制芯片扫描测试模式下时钟门控单元的开启和关闭,降低了时钟门控单元的控制难度,有效地控制了时钟门控单元的开启比例,减少测试向量数量,提高测试
基站芯片的测试方法和装置、存储介质及电子装置.pdf
本发明公开了一种基站芯片的测试方法和装置、存储介质及电子装置,其中,上述方法包括:获取测试请求,其中,测试请求用于请求对基站芯片中的目标命令进行测试;响应测试请求,从基站芯片所包括的一个或者多个芯片进程中确定目标命令所属于的目标芯片进程,其中,每个芯片进程用于执行一个或者多个命令;获取目标芯片进程执行目标命令的执行信息作为目标命令的测试结果。采用上述技术方案,解决了相关技术中,测试基站芯片的效率较低等问题。
运算方法、装置、芯片、电子装置及存储介质.pdf
本公开提供了一种运算方法、装置、芯片、电子设备及介质,涉及计算机技术领域,尤其涉及芯片技术。方案包括:获取目标浮点数相应的整数部分和小数部分;对二进制表示的小数部分进行划分,得到最高位的预设数量的高位子部分;通过查表获得高位子部分的查表值,查表值为以高位子部分为指数进行以目标值为底的指数运算所得到的结果;基于查表值,利用硬件确定以小数部分为指数进行以目标值为底的指数运算所得到的结果;以及基于以整数部分为指数进行以目标值为底的指数运算所得到的结果,以及以小数部分为指数进行以目标值为底的指数运算所得到的结果,
车辆控制方法、装置、车辆、存储介质及芯片.pdf
本公开涉及一种车辆控制方法、装置、车辆、存储介质及芯片,所述方法包括:采集车辆周围环境的环境图像;通过所述环境图像和环境感知模型,获取环境感知结果;根据所述环境感知结果,控制所述车辆行驶;其中,所述环境感知模型通过以下方式预先构建:确定构建所述环境感知模型的多个环境感知模块和目标配置信息,所述目标配置信息包括多个所述环境感知模块之间的关联关系;通过多个所述环境感知模块、所述目标配置信息以及特征池,构建所述环境感知模型,所述特征池用于存储每个所述环境感知模块输出的所述车辆自动驾驶过程中的环境感知特征。这样,