运算方法、装置、芯片、电子装置及存储介质.pdf
英哲****公主
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运算方法、装置、芯片、电子装置及存储介质.pdf
本公开提供了一种运算方法、装置、芯片、电子设备及介质,涉及计算机技术领域,尤其涉及芯片技术。方案包括:获取目标浮点数相应的整数部分和小数部分;对二进制表示的小数部分进行划分,得到最高位的预设数量的高位子部分;通过查表获得高位子部分的查表值,查表值为以高位子部分为指数进行以目标值为底的指数运算所得到的结果;基于查表值,利用硬件确定以小数部分为指数进行以目标值为底的指数运算所得到的结果;以及基于以整数部分为指数进行以目标值为底的指数运算所得到的结果,以及以小数部分为指数进行以目标值为底的指数运算所得到的结果,
基站芯片的测试方法和装置、存储介质及电子装置.pdf
本发明公开了一种基站芯片的测试方法和装置、存储介质及电子装置,其中,上述方法包括:获取测试请求,其中,测试请求用于请求对基站芯片中的目标命令进行测试;响应测试请求,从基站芯片所包括的一个或者多个芯片进程中确定目标命令所属于的目标芯片进程,其中,每个芯片进程用于执行一个或者多个命令;获取目标芯片进程执行目标命令的执行信息作为目标命令的测试结果。采用上述技术方案,解决了相关技术中,测试基站芯片的效率较低等问题。
芯片设计方法、装置、芯片、电子设备及存储介质.pdf
本发明公开了一种芯片设计方法,应用于芯片设计技术领域,包括:获取目标领域内应用程序的行为特征的量化值,该行为特征表示该应用程序在通用处理器上运行的过程中表现出的行为特征;根据该行为特征的量化值,构建该目标领域的通用特征模型;基于芯片评估指标,优化该目标领域的通用特征模型,得到该目标领域的定制特征模型;根据该通用特征模型和该定制特征模型,设计该目标领域的芯片。本发明还公开了一种芯片设计装置、芯片、电子设备及存储介质,其区别于通用计算芯片和专用计算芯片的设计方法,面向特定领域的芯片设计,可兼顾高灵活性和高能量
芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质.pdf
本公开提出一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质,其中,该方法包括:获取待验证芯片的性能数据的传输时段;根据传输时段,确定至少一个第一子时段以及各第一子时段中的第二子时段;根据各第一子时段对应的时长和设定目标性能指标,确定对应的第一子时段中的第二子时段的期望目标性能指标;根据各设定目标性能指标以及各期望目标性能指标,运行待验证芯片,以得到待验证芯片在各所述第一子时段的监测目标性能指标,由此,通过第一子时段的设定目标性能指标以及第二子时段的期望目标性能,可使待验证芯片在各第一子时段的监测目标性能指标,符
协处理芯片的启动方法、装置、存储介质及电子装置.pdf
本申请实施例公开了一种协处理芯片的启动方法、装置、存储介质及电子装置,其中,本申请实施例接收应用处理芯片传输的启动程序,将所述启动程序存储至存储器;确定所述启动程序在所述存储器中的存储地址,根据所述存储地址对所述启动程序的写权限进行限制处理;从所述存储器中运行所述启动程序,以完成所述协处理芯片的启动,由于第一固件代码的读权限仍然保留,不影响第一固件代码的运行,而写权限被限制,提高了协处理芯片启动的安全性,外部的应用处理芯片和内部的IP核都不能对第一固件代码进行篡改,进而提高了协处理芯片启动的成功率。