用于分析物质的固态特性的样品保持器.pdf
Jo****34
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用于在筛选过程中容纳固态的物质的样品保持器(1)包括主体(2),该主体具有侧壁部分(21)、底部部分(22)以及由侧壁部分(21)和底部部分(22)限定的中空内部。底部部分(22)由热塑性聚酰亚胺制成。样品保持器(1)允许提供物质的固态特性的高质量分析以及物质的有效和安全的处理。
用于对结晶样品执行X射线分析的样品保持器以及样品保持器处理系统.pdf
一种用于对结晶样品(11)执行X射线分析的样品保持器(3),包括安装支撑件,该安装支撑件的第一端部能够被附接到测角仪头,其中结晶样品(11)能够在距第一端部的一距离处被附着到安装支撑件。样品保持器(3)还包括位于安装支撑件的第一端部处的保持器基座,该保持器基座具有用于将保持器基座安装到测角仪头的装置,其中保持器基座被配置为适配到孔板(1)的孔(2)中。该保持器基座包括铁磁材料,用以将保持器基座安装到位于测角仪头处或测角仪头内的磁性基座元件。安装支撑件包括优选由玻璃制成的管,结晶样品(11)可以被插入到管中
准备和分析物质的固态特性.pdf
在包括固化物质的步骤的分析物质的固态特性的方法中,在多孔板(4)的多个槽孔(1,46)中的一个槽孔中获得固化物质。在多孔板(4)中,多个槽孔(1,46)中的所述至少一个槽孔具有由热塑性聚酰亚胺制成的底部(22)。该方法还包括通过X射线衍射分析多孔板(4)的槽孔(1,46)中的固化物质。由此,所述分析包括透过固化物质和槽孔(1,46)的底部(22)提供X射线并评估通过固化物质和槽孔(1,46)的底部(22)的X射线。这种方法和多孔板(4)提供了耐用且成本有效的系统,其允许对物质的固态特性进行高质量分析以及对
用于椭偏确定样品特性的方法.pdf
本发明涉及用于椭偏确定样品(12)的特性的方法,该方法包括以下步骤:‑将样品(12)定位在椭偏仪(10)中,其中,样品表面的测量区域的面法线(n)相对于椭偏仪(10)的参考轴线(z)倾斜,‑针对测量区域测量缪勒矩阵;‑根据使所测得的缪勒矩阵与如下矩阵的矩阵乘积相等来建立至少非欠定的方程组:+关于输入旋转角(γ)的旋转矩阵,+归一化的NCS形式的各向同性的缪勒矩阵,和+关于输出旋转角(‑δ)的旋转矩阵;‑根据代表待确定的样品特性的参数求解所述方程组。本发明的特征在于,在建立方程组时,将输入旋转角(γ)和输出
一种用于确定流体样品中的颗粒特性和/或用于确定流体样品的污染特性的方法.pdf
根据本发明,提供了一种用于确定流体样品中的颗粒特性和/或用于确定流体样品的污染特性的方法,所述方法包括以下步骤,(a)在衬底的表面上沉积金属膜,以在所述衬底上提供光滑的金属表面;(b)使流体样品与衬底的所述金属表面接触;(c)从所述金属表面移除与所述金属表面接触的所述流体样品,使得仅所述流体样品中的颗粒保留在衬底的金属表面上;(d)在所述金属表面和保留在衬底的所述金属表面上的所述颗粒上沉积金属层,使得每个所述颗粒被提供有相应金属层,并且所述金属表面的没有颗粒的区域被提供有金属层,其中,对于每个颗粒,在颗粒