修正蓄光测距误差的方法、装置、设备和激光测距仪.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN112083436A(43)申请公布日2020.12.15(21)申请号202010922315.7(22)申请日2020.09.04(71)申请人深圳市迈测科技股份有限公司地址518051广东省深圳市南山区桃源街道福光社区塘朗车辆段旁塘朗城广场(西区)A座3601(72)发明人黄杰峰侴智郑以磊(74)专利代理机构广州华进联合专利商标代理有限公司44224代理人虞凌霄(51)Int.Cl.G01S17/10(2020.01)G01S7/497(2006.01)权利要求书2页说明书8页附图3页(54)发明名称修正蓄光测距误差的方法、装置、设备和激光测距仪(57)摘要本申请涉及一种修正蓄光测距误差的方法、装置、设备和激光测距仪。该修正蓄光测距误差方法通过获取反射激光脉冲返回的第一时间和第二时间；根据第一时间和第二时间，确定反射激光脉冲的集光强度；基于误差函数，根据集光强度，确定蓄光误差值；根据蓄光误差值修正名义测距值，得到目标测距值。本申请提供的修正蓄光测距误差的方法可以得到由于光能蓄积而产生的蓄光误差值，从而可以对名义测距值进行修正，得到准确的目标测距值。CN112083436ACN112083436A权利要求书1/2页1.一种修正蓄光测距误差的方法，其特征在于，包括：获取反射激光脉冲返回的时间，得到第一时间和第二时间；根据所述第一时间和所述第二时间，确定所述反射激光脉冲的集光强度；基于误差函数，根据所述集光强度，确定蓄光误差值，其中，所述误差函数用于表征所述集光强度与所述蓄光误差值之间的关系；根据所述蓄光误差值修正名义测距值，得到目标测距值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定所述误差函数的方法包括：根据集光强度数据集和蓄光误差数据集，确定所述误差函数，其中，所述集光强度数据集和所述蓄光误差数据集均为实验得到的数据集。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述误差函数为：其中，Y为所述蓄光误差值，X为所述集光强度，A、B、C和D为所述误差函数的系数。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一时间和所述第二时间，确定所述反射激光脉冲的集光强度，包括：计算所述第二时间和所述第一时间之间的差值，根据所述差值确定所述反射激光脉冲的集光强度。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述名义测距值的确定方法包括：获取发射激光脉冲发送的时间，得到第三时间；根据所述第一时间、所述第三时间和光速，确定所述名义测距值，其中，所述光速用于表征所述发射激光脉冲和所述反射激光脉冲传播的速度。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述测距修正值修正名义测距值，得到目标测距值，包括：计算所述名义测距值与所述蓄光误差值之间的差值，得到所述目标测距值。7.一种激光测距仪，其特征在于，包括：激光发射装置，用于向被测物体发送发射激光脉冲；激光接收装置，用于接收由所述被测物体返回的反射激光脉冲；计时装置，与所述激光接收装置信号连接，所述激光接收装置用于在接收到所述反射激光脉冲后，向所述计时装置发送第一触发信号和第二触发信号，其中，所述第一触发信号用于控制所述计时装置记录第一时间，所述第二触发信号用于控制所述计时装置记录第二时间；控制装置，与所述激光发射装置和所述计时装置信号连接，用于控制所述激光发射装置发送所述发射激光脉冲，并控制所述计时装置开始计时，得到第三时间值，同时，所述控制装置用于执行如权利要求1至6任一项所述的修正蓄光测距误差的方法。8.一种修正蓄光测距误差的装置，其特征在于，包括：获取模块，用于获取反射激光脉冲返回的时间，得到第一时间和第二时间；确定模块，用于根据所述第一时间和所述第二时间，确定所述反射激光脉冲的集光强度；确定模块，还用于基于误差函数，根据所述集光强度，确定蓄光误差值，其中，所述误差2CN112083436A权利要求书2/2页函数用于表征所述集光强度与所述蓄光误差值之间的关系；获取模块，还用于根据所述蓄光误差值修正名义测距值，得到目标测距值。9.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。3CN112083436A说明书1/8页修正蓄光测距误差的方法、装置、设备和激光测距仪技术领域[0001]本申请涉及激光技术领域，特别是涉及一种修正蓄光测距误差的方法、装置、设备和激光测距仪。背景技术[0002]激光测距仪通常采用飞行时间法测距，具体过程是：激光测距仪向被测物体发射激光脉冲，同时控