相位角校正值计算装置和计算相位角校正值的方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN112945221A(43)申请公布日2021.06.11(21)申请号202011439556.2(22)申请日2020.12.10(30)优先权数据19214952.42019.12.10EP(71)申请人迈来芯科技有限公司地址比利时特森德洛(72)发明人V·赛流陈科A·奥特K·莱格(74)专利代理机构上海专利商标事务所有限公司31100代理人黄嵩泉张鑫(51)Int.Cl.G01C21/00(2006.01)G01C17/28(2006.01)权利要求书2页说明书12页附图8页(54)发明名称相位角校正值计算装置和计算相位角校正值的方法(57)摘要本发明涉及相位角校正值计算装置和计算相位角校正值的方法。一种相位角误差计算装置(100)，包括：光源(102)，该光源(102)根据间接飞行时间(iToF)测量技术发射射线。该光子混合器单元(104)生成并存储与多个预定相位偏移值相对应的多个电输出信号。信号处理电路根据iToF测量技术处理电输出信号，以便从中计算参考向量和参考相位角。输出信号与以第一精度水平进行的测量相对应。该电路根据iToF测量技术处理输出信号的子集，并据此计算测量向量和测量相位角。输出信号的子集与以低于第一精度水平的第二精度水平进行的测量相对应。该电路使用参考相位角和测量相位角计算相位角校正值。CN112945221ACN112945221A权利要求书1/2页1.一种用于光学测距系统的相位角误差计算装置，所述装置包括：光源，所述光源被配置成用于根据间接飞行时间测量技术发射射线；光子混合器单元，所述光子混合器单元被配置成用于生成并存储多个电输出信号，所述多个电输出信号分别与根据所述间接飞行时间测量技术在测量周期内所施加的多个预定相位偏移值相对应；信号处理电路，所述信号处理电路被配置成用于根据所述间接飞行时间测量技术处理所述多个电输出信号，以便计算参考向量和来自所述参考向量的参考相位角，所述多个电输出信号与以第一精度水平进行的测量相对应；其中所述信号处理电路被配置成用于根据所述间接飞行时间测量技术处理来自所述多个电输出信号的电输出信号的子集，以便计算测量向量和来自所述测量向量的测量相位角，所述电输出信号的子集与以低于所述第一精度水平的第二精度水平进行的测量相对应；并且所述信号处理电路被配置成用于使用所述参考相位角和所述测量相位角来计算相位角校正值。2.如权利要求1所述的装置，进一步包括：飞行时间修改单元，所述飞行时间修改单元被配置成用于将相位延迟引入到被发射并往回反射到所述光子混合器单元的所述射线中；其中所述信号处理电路被配置成用于在所述测量周期之后的多个测量周期内执行对所述相位角校正值的重复计算，以便计算多个相位角校正值。3.如权利要求2所述的装置，其特征在于，所述飞行时间修改单元是延迟网络，所述延迟网络提供多个不同的时间延迟，并被配置成用于在所述多个测量周期之间以不同的量延迟由所述光源发射的所述射线的相位。4.如权利要求3所述的装置，其特征在于，所述延迟网络包括模拟延迟线。5.如权利要求3或权利要求4所述的装置，其特征在于，对所述延迟网络的所述多个不同的时间延迟的施加提供包括相应的相位误差的一系列相位测量范围，所述一系列相位测量至少在循环误差周期内。6.如权利要求1所述的装置，进一步包括：多个光子混合器单元，所述多个光子混合器单元包括所述光子混合器单元，所述多个光子混合器单元分别包括多个光电探测器元件；飞行时间修改单元，所述飞行时间修改单元被配置成用于将多个相应的相位延迟引入到往回反射到所述多个光电探测器元件的所述射线中；其中所述信号处理电路被配置成用于在所述测量周期内并关于所述多个光子混合器单元执行对所述相位角校正值的计算，以便计算多个相位角校正值。7.如权利要求3所述的装置，其特征在于，所述飞行时间修改单元是位于场景中的对象，并且相对于所述多个光电探测器元件被布置，以便充分地远离所述多个光电探测器元件延伸，从而使得能够关于循环误差周期并至少在循环误差周期内计算一系列相位角校正值。8.如权利要求1至4中任一项所述的装置，其特征在于，所述信号处理电路被配置成用于支持误差建模单元，所述误差建模单元被配置成用于分析所述多个相位角校正值并用于2CN112945221A权利要求书2/2页生成所述多个相位角校正值的模型。9.如权利要求8所述的装置，其特征在于，所述误差建模单元被配置成用于生成查找表，所述查找表包括关于以所述第二精度水平进行的测量的针对预定系列的经计算的相位角的相位误差校正值。10.如权利要求1至4中任一项所述的装置，其特征在于，关于以所述第一精度水平进行的测量的所述多个电输出信号包括关于以所述第二精度水平进行的测量的第一组电