定位方法、装置、系统、电子设备及存储介质.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN111540008A(43)申请公布日2020.08.14(21)申请号202010306904.2(22)申请日2020.04.17(71)申请人北京柏惠维康科技有限公司地址100191北京市海淀区花园东路乙9号3号楼502室(72)发明人刘达陈莹谢永召(74)专利代理机构北京合智同创知识产权代理有限公司11545代理人李杰(51)Int.Cl.G06T7/70(2017.01)G16H20/40(2018.01)A61N2/02(2006.01)权利要求书2页说明书20页附图6页(54)发明名称定位方法、装置、系统、电子设备及存储介质(57)摘要本申请提供一种定位方法、装置、系统、电子设备及存储介质，其中，定位方法,包括：确定目标区域的三维影像模型，以及确定三维影像模型与第一标记物之间的第一相对位姿关系，第一标记物固定设置在目标区域；确定磁刺激线圈的磁场三维模型，以及确定磁场三维模型与第二标记物之间的第二相对位姿关系，第二标记物固定设置在磁刺激线圈上；采集包括第一标记物以及第二标记物的图像，确定第一标记物和第二标记物在图像中的当前位姿；根据第一标记物和第二标记物在图像中的当前位姿、第一相对位姿关系以及第二相对位姿关系，在界面上渲染三维影像模型和磁场三维模型，以根据渲染的界面对目标区域和磁场三维模型的相对位姿进行定位。CN111540008ACN111540008A权利要求书1/2页1.一种定位方法,其特征在于，包括：确定目标区域的三维影像模型，以及确定所述三维影像模型与第一标记物之间的第一相对位姿关系，所述第一标记物固定设置在所述目标区域；确定磁刺激线圈的磁场三维模型，以及确定所述磁场三维模型与第二标记物之间的第二相对位姿关系，所述第二标记物固定设置在所述磁刺激线圈上；采集包括所述第一标记物以及所述第二标记物的图像，确定所述第一标记物和所述第二标记物在所述图像中的当前位姿；根据所述第一标记物和所述第二标记物在所述图像中的当前位姿、所述第一相对位姿关系以及所述第二相对位姿关系，在界面上渲染所述三维影像模型和所述磁场三维模型，以根据渲染的界面对所述目标区域和所述磁场三维模型的相对位姿进行定位。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：确定所述第一标记物在光学跟踪器的坐标系下的第一坐标；根据所述第一坐标，确定所述第一标记物的局部坐标系与所述光学跟踪器的坐标系之间的第一变换关系；对应的，所述第一标记物在所述图像中的当前位姿通过下述方法确定：通过所述光学跟踪器采集包括所述第一标记物以及所述第二标记物的图像，基于所述第一变换关系，确定所述第一标记物在所述图像中的当前位姿。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定所述三维影像模型与第一标记物之间的第一相对位姿关系，包括：确定所述第一标记物在所述三维影像模型的坐标系下的第二坐标；根据所述第一坐标和所述第二坐标，确定三维影像模型的坐标系与所述光学跟踪器的坐标系之间的第二变换关系；根据所述第一变换关系和所述第二变换关系，确定所述三维影像模型与第一标记物之间的第一相对位姿关系。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定所述第一标记物在光学跟踪器的坐标系下的第一坐标，包括：在所述光学跟踪器的坐标系下，确定所述第一标记物的多个角点分别对应的第一子坐标；所述根据所述第一坐标，确定所述第一标记物的局部坐标系与所述光学跟踪器的坐标系之间的第一变换关系包括：预先确定所述第一标记物的局部坐标系下，所述多个角点对应的局部子坐标；基于多点透视原理，根据多个所述第一子坐标以及多个所述局部子坐标，确定所述第一标记物的局部坐标系与所述光学跟踪器的坐标系之间的所述第一变换关系。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：确定所述第二标记物在光学跟踪器的坐标系下的第三坐标；根据所述第三坐标，确定所述第二标记物的局部坐标系与所述光学跟踪器的坐标系之间的第三变换关系；对应的，所述第二标记物在所述图像中的当前位姿通过下述方法确定：通过光学跟踪器采集包括所述第一标记物以及所述第二标记物的图像，基于所述第三2CN111540008A权利要求书2/2页变换关系，确定所述第二标记物在所述图像中的当前位姿。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述确定所述磁场三维模型与第二标记物之间的第二相对位姿关系，包括：确定所述第二标记物在所述磁场三维模型的坐标系下的第四坐标；根据所述第三坐标和所述第四坐标，确定所述磁场三维模型的坐标系与所述光学跟踪器的坐标系之间的第四变换关系；根据所述第三变换关系和所述第四变换关系，确定所述磁场三维模型与第二标记物之间的第二相对位姿关系。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据