用于在渲染图像中使用的可重新照明纹理.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN112017272A(43)申请公布日2020.12.01(21)申请号202010877288.6(74)专利代理机构北京市金杜律师事务所(22)申请日2015.08.0711256代理人姚杰(30)优先权数据1414144.42014.08.08GB(51)Int.Cl.1418090.52014.10.13GBG06T15/50(2011.01)1418092.12014.10.13GB1418093.92014.10.13GB(62)分案原申请数据201510484716.82015.08.07(71)申请人想象技术有限公司地址英国赫特福德郡(72)发明人J·伊姆伯A·希尔顿J-Y·吉耶莫特权利要求书3页说明书20页附图8页(54)发明名称用于在渲染图像中使用的可重新照明纹理(57)摘要本公开的实施例涉及用于在渲染图像中使用的可重新照明纹理。可重新照明的自由视点渲染允许基于来自多个照相机视点的场景的多视图的场景的新视图被渲染和重新照明。可将来自多个照相机视点的图像值分离成漫射图像分量和镜面反射图像分量，使得通过使用分离的漫反射图像分量可以确定镜面反射场景的可重新照明纹理的本征颜色分量。而且，通过基于初始表面法线场的保守分量构建高度映射，然后基于所构建的高度映射确定细化的表面法线，可以对场景中几何的表面法线进行细化。CN112017272ACN112017272A权利要求书1/3页1.一种确定针对图像处理系统中的场景的局部辐照估计的方法，所述方法包括：获得针对所述场景中的一个或多个表面上的样本位置的初始辐照估计，所述初始辐照估计是基于针对所述场景的全局辐照估计的；获得指示所述场景中依赖于视角的所述样本位置的可见性的可见性指示；使用所获得的所述初始辐照估计和所获得的所述可见性指示，来计算针对所述场景的角度依赖性辐射估计；以及使用所述辐射估计和所述可见性指示，以确定所述样本位置处的局部辐照估计。2.根据权利要求1所述的方法，还包括：使用所述局部辐照估计来确定针对纹理的本征颜色估计。3.根据权利要求1或2所述的方法，其中所述全局辐照估计依赖于表面法线，并且其中获得针对所述场景中的一个或多个表面上的样本位置的初始辐照估计包括：使用所述样本位置的表面法线，通过对所述全局辐照估计进行采样来确定所述初始辐照估计。4.根据权利要求1或2所述的方法，其中针对所述场景的所述全局辐照估计可以通过以下而被确定：分析所述场景的至少一个视图，以估计描述所述场景中的所述一个或多个表面的场景几何，并且将初始纹理分段成多种材料，所述初始纹理可被分离成本征颜色估计和对应的阴影估计；确定针对所述材料中的每种材料的初始粗糙本征颜色估计；确定一个或多个缩放因子，用于缩放所述初始粗糙本征颜色估计中的相应的一个或多个初始粗糙本征颜色估计，所述缩放因子是基于材料辐照估计之间的差异而被确定的，所述材料辐照估计针对所述材料、基于与所述材料的所述初始粗糙本征颜色估计的缩放版对应的阴影估计而被确定；以及使用所确定的所述缩放因子来确定所述全局辐照估计作为表面法线的函数。5.根据权利要求4所述的方法，其中针对所述材料中的每种材料，所述初始粗糙本征颜色估计通过找到针对所述材料的所述初始纹理中的值的平均值而被确定。6.根据权利要求4所述方法，其中使用所确定的所述缩放因子来确定所述全局辐照估计包括：使用所确定的所述缩放因子，来缩放所述初始粗糙本征颜色估计中的所述一个或多个初始粗糙本征颜色估计；以及使用缩放的所述粗糙本征颜色估计以确定所述全局辐照估计作为表面法线的函数。7.根据权利要求6所述方法，其中使用缩放的所述粗糙本征颜色估计以确定所述全局辐照估计包括：组合缩放的所述粗糙本征颜色估计，以形成全局粗糙本征颜色估计；以及使用所述全局粗糙本征颜色估计以确定所述全局辐照估计作为表面法线的函数。8.根据权利要求7所述的方法，还包括：将二阶球谐函数拟合到所述全局辐照估计，从而对所述全局辐照估计进行去噪。9.根据权利要求4所述的方法，其中确定一个或多个缩放因子包括：确定针对所述材料辐照估计的重叠区域中的不同材料的材料辐照估计之间的所述差异的测量，所述差异的所述测量依赖于所述缩放因子，其中对于特定缩放因子，针对材料的2CN112017272A权利要求书2/3页所述材料辐照估计匹配于与用所述特定缩放因子缩放的所述初始粗糙本征颜色估计的版本对应的所述阴影估计；以及确定所述缩放因子以便最小化所述差异的所述测量。10.根据权利要求1或2所述的方法，其中获得可见性指示包括：基于通过分析所述场景的至少一个视图而确定的、描述所述场景中的所述一个或多个表面的所估计的场景几何，来确定所述可见性指示。11.根据权利要求1或2所述的方法，其中所