亚像素精度的大尺寸产品的PIN针位置度检测方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN110068271A(43)申请公布日2019.07.30(21)申请号201910317864.9(22)申请日2019.04.19(71)申请人怡得乐电子（杭州）有限公司地址310018浙江省杭州市经济技术开发区10号大街280号(72)发明人陈伟斌程小斌(74)专利代理机构广州市红荔专利代理有限公司44214代理人关家强(51)Int.Cl.G01B11/00(2006.01)权利要求书3页说明书6页附图1页(54)发明名称亚像素精度的大尺寸产品的PIN针位置度检测方法(57)摘要本发明提出的亚像素精度的大尺寸产品的PIN针位置度检测方法，通过固定相机和光源的位置，利用伺服系统带动产品移动，将产品分为若干子部分分别采集各部分的图像，利用各图像中具有的共同像素点，将各子部分的图像的统一的图像坐标系，同时创建出新的基准坐标系，最后将计算得到的PIN针针尖与新的基准之间的距离与设定的公差值进行比较，从而区分合格品和非合格品。本发明摒弃了采用图像缝合方法获取大尺寸产品尺寸的方法，能够大大减少拼接而带来的误差，处理像素具有亚像素功能。此外，本发明的检测方法适用不同品牌的相机，并能够应用于不同产品的检测，通用型和兼容性强。CN110068271ACN110068271A权利要求书1/3页1.亚像素精度的大尺寸产品的PIN针位置度检测方法，其特征在于，包括如下步骤：S1.将待测产品在长度方向上分为若干子部分Ai，并在产品上设置用于检测位置度的第一基准点和第二基准点，其中，i的取值大于等于1；相邻子部分Ai之间具有重合区域Bi，且产品上的第一基准点位于第一个子部分上，产品上的第二基准点位于最后一个子部分上；S2.采用PIN针检测系统按顺序依次采集各子部分Ai的图像，记为Pi，并将各子部分的图像Pi按顺序编号并存放；S3.采用PIN针检测系统对各子部分的图像Pi中的重合区域进行预处理，分别获取各子部分Ai的重合区域Bi内的相同像素点在图像坐标系内的位置信息，并建立统一的图像坐标系；S4.采用PIN针检测系统对各子部分的图像Pi中的PIN针的区域进行预处理，获取各子部分Ai中各个PIN针的中心点在统一的图像坐标系内的位置信息；S5.获取第一基准点和第二基准点在统一的图像坐标系内的位置信息，创建新的基准坐标系；S6.分别计算各PIN针中心点与新的基准坐标系的X轴的距离DX以及与新的基准坐标系Y轴的距离DY，当DX和DY同时满足设定的数值时，对应的PIN针的位置度合格；否则，对应的PIN针的位置度不合格；其中，所述PIN针检测系统包括PIN针检测设备以及工控机，所述PIN针检测设备包括相机、光源以及伺服系统；待测产品固定在伺服系统的定位夹具上，所述光源设置在所述伺服系统上方，所述相机设置在所述光源上方；在采集各子部分Ai的图像的过程中，保持相机和光源的位置不变，所述伺服系统带动待测产品沿第一方向移动；所述工控机与所述相机连接，用于读取所述相机获取的图像以对图像进行处理和计算。2.根据权利要求1所述的亚像素精度的大尺寸产品的PIN针位置度检测方法，其特征在于，S2包括如下子步骤：S21.将待测产品固定在所述伺服系统的定位夹具上；S22.调试相机和光源，伺服系统带动待测产品依次移动至预设的各个位置处，所述相机同步采集图像，分别得到各子部分的图像Bi；S23.将各子部分的图像Pi按顺序存储在所述工控机内。3.根据权利要求1所述的亚像素精度的大尺寸产品的PIN针位置度检测方法，其特征在于，S3中建立统一的图像坐标系的步骤包括：S31.通过边缘查找方法对产品进行初定位，对各子部分的重合区域Bi进行二值化、形态学处理后，对其进行Blob检测，得到相同像素点的中心点在对应重合区域中的坐标；S32.根据S31得到的结果，计算各子部分的图像Pi的图像坐标系相对于其后一子部分的图像Pi+1图像坐标系的变化量，将各子部分的图像的对应的图像坐标系转换到第一个子部分的图像的图像坐标系。4.根据权利要求3所述的亚像素精度的大尺寸产品的PIN针位置度检测方法，其特征在于，S32的计算过程如下：S321.设第j个子部分的图像为Pj，其后的两个子部分的图像分别记为Pj+1，Pj+2，第j个子部分的图像Pj与第(j+1)个子部分的图像Pj+1的相同像素记为Pa，第(j+1)个子部分的图像与第(j+2)个子部分的图像的像素像素记为Pb，Pa在第j个子部分图像中坐标记为(PaX1，2CN110068271A权利要求书2/3页PaY1)，在第(j+1)个子部分的图像中的坐标记为(PaX2，PaY2)；Pb在第(j+1)个子部分图像中坐标记为(PbX1，PbY1)，在第(j+2)个子部分的图像中的坐标记为(Pb