一种X射线图像中滤线栅伪影的抑制方法及装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号(10)申请公布号CNCN104077743104077743A(43)申请公布日2014.10.01(21)申请号201310098579.5(22)申请日2013.03.25(71)申请人深圳市蓝韵实业有限公司地址518000广东省深圳市福田区景田路碧景园E栋408-413室(72)发明人康雨郭朋(74)专利代理机构深圳冠华专利事务所(普通合伙)44267代理人诸兰芬(51)Int.Cl.G06T5/00(2006.01)权权利要求书2页利要求书2页说明书4页说明书4页附图1页附图1页(54)发明名称一种X射线图像中滤线栅伪影的抑制方法及装置(57)摘要本发明公开一种X射线图像中滤线栅伪影的抑制方法及装置。其中，所述方法包括步骤：在垂直于原始的X射线图像的滤线栅的栅纹方向上对原始的X射线图像进行一维高通滤波；去除组织边缘的图像且根据连续栅纹的长度特征确定，确定并保留滤线栅的栅纹；根据原始的X射线图像在像素点(x，y)处的灰度值确定系数矩阵T，将第三栅纹图像与系数矩阵T对应点相乘得到最终的栅纹图像；在原始的X射线图像中减去最终的栅纹图像，得到抑制滤线栅伪影后的X射线图像。由于本发明在空域采用多特征确定滤线栅的栅纹的位置和强度，因此效率比较高，并且抑制滤线栅伪影的效果也比较好。CN104077743ACN10473ACN104077743A权利要求书1/2页1.一种X射线图像中滤线栅伪影的抑制方法，其特征在于，包括步骤：A、在垂直于原始的X射线图像的滤线栅的栅纹方向上对原始的X射线图像进行一维高通滤波，得到第一栅纹图像；B、去除第一栅纹图像中组织边缘的图像，得到第二栅纹图像；C、根据连续栅纹的长度特征确定，在第二栅纹图像确定并保留滤线栅的栅纹，得到第三栅纹图像；D、根据原始的X射线图像在像素点(x，y)处的灰度值确定系数矩阵T，将第三栅纹图像与系数矩阵T对应点相乘得到第四栅纹图像；E、在原始的X射线图像中减去第四栅纹图像，得到抑制滤线栅伪影后的X射线图像。2.根据权利要求1所述一种X射线图像中滤线栅伪影的抑制方法，其特征在于，步骤B具体包括：计算第一栅纹图像中像素点的灰度最大值Max，设定阈值TH1＝a*MAX，其中a为介于0～1之间的常数；若第一栅纹图像中像素点(x，y)的灰度值B(x，y)＞TH1，则在第一栅纹图像中将其去除，得到第二栅纹图像。3.根据权利要求1所述一种X射线图像中滤线栅伪影的抑制方法，其特征在于，a＝0.2。4.根据权利要求1所述一种X射线图像中滤线栅伪影的抑制方法，其特征在于，步骤B具体包括：根据提取出的栅纹长度特性，设定阈值TH2；在第二栅纹图像中连续栅纹的长度记为L(x)，假如L(X)＜TH2，则在第二栅纹图像中将其去除，得到第三栅纹图像。5.根据权利要求4所述一种X射线图像中滤线栅伪影的抑制方法，其特征在于，TH2＝5。6.根据权利要求1所述一种X射线图像中滤线栅伪影的抑制方法，其特征在于，根据X射线图像A的像素点(x，y)处的灰度值，利用下式确定系数矩阵T：X1＝InputTH1*Temp+SrcMin；X2＝InputTH2*Temp+SrcMin；Temp＝(SrcMax-SrcMin)/10；其中SrcMax和SrcMin分别为原始的X射线图像中像素点灰度值的最大值和最小值，InputTH1和InputTH2介于1～10。7.根据权利要求6所述一种X射线图像中滤线栅伪影的抑制方法，其特征在于，InputTH1＝2，InputTH2＝5。8.一种X射线图像中滤线栅伪影的抑制装置，其特征在于，包括：高通滤波器，用于在垂直于原始的X射线图像的滤线栅的栅纹方向上对原始的X射线图像进行一维高通滤波，得到第一栅纹图像；2CN104077743A权利要求书2/2页组织边缘去除处理模块，用于去除第一栅纹图像中组织边缘的图像，得到第二栅纹图像；栅纹确定模块，用于根据连续栅纹的长度特征确定，在第二栅纹图像确定并保留滤线栅的栅纹，得到第三栅纹图像；栅纹图像处理模块，用于根据原始的X射线图像在像素点(X，y)处的灰度值确定系数矩阵T，将第三栅纹图像与系数矩阵T对应点相乘得到第四栅纹图像；伪影抑制处理模块，用于在原始的X射线图像中减去第四栅纹图像，得到抑制滤线栅伪影后的X射线图像。9.根据权利要求8所述一种X射线图像中滤线栅伪影的抑制装置，其特征在于，组织边缘去除处理模块通过计算第一栅纹图像中像素点的灰度最大值Max，设定阈值TH1＝a*MAX，其中a为介于0～1之间的常数，若第一栅纹图像中像素点(x，y)的灰度值B(x，y)＞TH1，则在第一栅纹图像中将其去除，得到第二栅纹图像。10.根据权利要求8所述一种X射线图像中滤线栅伪影的抑制装置，