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(19)中华人民共和国国家知识产权局*CN102360083A*(12)发明专利申请(10)申请公布号CN102360083A(43)申请公布日2012.02.22(21)申请号201110240462.7(22)申请日2011.08.19(71)申请人上海高晶影像科技有限公司地址200083上海市杨浦区翔殷路128号11号楼A座112-113室(72)发明人彭宁嵩陆志文燕居朕吴家荣(74)专利代理机构上海光华专利事务所31219代理人李仪萍(51)Int.Cl.G01V5/00(2006.01)G01N23/04(2006.01)权利要求书2页说明书6页附图2页(54)发明名称应用于线扫描X射线安检机中图像去皮带伪影的方法(57)摘要本发明提供一种应用于线扫描X射线安检机中图像去皮带伪影的方法,采用了基于光电开关触发方式的对待检物品进行逐包动态校准的方法,即每次包裹进入通道后触发光电开关,并以此为时基信号控制X射线开闭以及探测器采集等动作。当X射线开启后马上进行饱和数据采集,当包裹驶出通道X射线关闭后马上再进行本底数据采集,然后再通过校准算法计算得到新的校准参数。如此往复下去就能够对皮带任何位置进行校准处理,杜绝了图像中出现皮带伪影的现象,进而解决了现有技术中,X射线安检机的皮带跑偏或者边缘不规整时,校准参数不能自动对当前皮带状态进行修正而是导致图像伪影的问题。CN102368ACCNN110236008302360100A权利要求书1/2页1.一种应用于线扫描X射线安检机中图像去皮带伪影的方法,所述线扫描X射线安检机至少包括,机架、设置于所述机架上的检测暗室、途径所述检测暗室用于输送待检物品的皮带、设置在所述检测暗室并位于所述皮带一侧的X射线源、设置在所述检测暗室并位于所述皮带另一侧的扫描探测器、设置在所述检测暗室入口处用以控制所述X射线源的光电开关、设置在所述机架上的显示器以及中央控制装置,其特征在于,所述方法包括以下步骤:1)开机,采集初始本底数据和初始饱和数据,并计算出一组初始增益系数,以生成一当前校准规则;2)当所述光电开关被所述待检物品遮挡时,延时第一预设时间后开启所述X射线源,然后,延时第二预设时间后开启所述扫描探测器,采集更新饱和数据;3)判断所述光电开关是否仍被所述待检物品遮挡,若是,依据所述当前校准规则对扫描的图像数据进行校准,并逐列拼接予以显示;若否,则延时第三预设时间后关闭所述扫描探测器,然后,延时第四预设时间后关闭所述X射线源,延时第五预设时间后再次开启所述扫描探测器,采集更新本底数据;以及4)依据所述更新饱和数据及所述更新本底数据计算出一组更新增益系数,并依据所述更新增益系数更新所述当前校准规则,并返回至步骤2),在下一次扫描作业中依据该更新后的当前校准规则对图像数据进行校准。2.根据权利要求1所述的应用于线扫描X射线安检机中图像去皮带伪影的方法,其特征在于:所述扫描探测器包括有多个探测器模块,并各该探测器模块中具有多个感光点。3.根据权利要求2所述的应用于线扫描X射线安检机中图像去皮带伪影的方法,其特征在于:所述扫描探测器中的感光点为n个,将其中一感光点记为i,则所述更新本底数据记为VOffi(i=1,2,3….n);所述更新饱和数据记为VOni(i=1,2,3….n);x所述更新增益系数则为Gi=2/(Voni-VOffi),(i=1,2,3…n);以及所述更新后的当前校准规则为Vreali=(Vi-VOffi)×Gi,(i=1,2,3…n);其中,x为所述扫描探测器的AD精度位数,Vi为该感光点i的实际电压值。4.根据权利要求2所述的应用于线扫描X射线安检机中图像去皮带伪影的方法,其特征在于:于所述步骤1)中,包括:1-1)开机;1-2)开启所述扫描探测器,对所述扫描探测器中各探测器模块的每一个感光点进行一次电压数据采集,将得到的各感光点的电压数据作为初始本底数据;1-3)开启所述X射线源,对所述扫描探测器中各探测器模块的每一个感光点再进行一次电压数据采集,将得到的各感光点的电压数据作为初始饱和数据;以及1-4)依据所述初始本底数据及所述初始饱和数据计算出一组初始增益系数,以生成一当前校准规则。5.根据权利要求4所述的应用于线扫描X射线安检机中图像去皮带伪影的方法,其特2CCNN110236008302360100A权利要求书2/2页征在于:所述扫描探测器中的感光点为n个,将其中一感光点记为i,则所述初始本底数据记为VOffi(i=1,2,3….n);所述初始饱和数据记为VOni(i=1,2,3….n);x所述初始增益系数则为Gi=2/(Voni-VOffi),(i=1,2,3…n);以及所述当前校准规则为Vreali=(Vi-VOffi)×Gi,(i=1,2,3…n);其中,x为所述扫描探