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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN107484431A(43)申请公布日2017.12.15(21)申请号201680013438.0(74)专利代理机构北京林达刘知识产权代理事务所(普通(22)申请日2016.03.01合伙)11277代理人刘新宇张会华(30)优先权数据2015-0429182015.03.04JP(51)Int.Cl.H01L21/02(2006.01)(85)PCT国际申请进入国家阶段日B23K20/00(2006.01)2017.09.01H01L21/304(2006.01)(86)PCT国际申请的申请数据B23K26/36(2014.01)PCT/JP2016/0563002016.03.01B23K26/57(2014.01)(87)PCT国际申请的公布数据WO2016/140229JA2016.09.09(71)申请人有限会社MTEC地址日本爱知县(72)发明人加藤光治宇佐见保岛田忠权利要求书2页说明书16页附图10页(54)发明名称半导体基板的制造方法以及半导体基板(57)摘要本发明的半导体基板的制造方法包括:氢层形成工序,在该氢层形成工序中,在由第1半导体材料的单晶形成的第1基板(2)上形成氢层(3);接合工序,在该接合工序中,使第1基板与临时基板(4)接合;第1分离工序,在该第1分离工序中,以氢层为边界使第1基板分离,将第1基板的分离出的表面侧的部分作为第1薄膜层(22)而保留在临时基板上;支承层形成工序,在该支承层形成工序中,在保留有第1薄膜层的临时基板上形成由第2半导体材料形成的支承层(6);第2分离工序,在该第2分离工序中,将临时基板去除;以及切除工序,在该切除工序中,将基板的周缘部(72)切除。CN107484431ACN107484431A权利要求书1/2页1.一种半导体基板的制造方法,其特征在于,所述半导体基板的制造方法包括:氢层形成工序,在该氢层形成工序中,在由第1半导体材料的单晶形成的第1基板的距表面预定深度的位置注入氢离子而形成氢层;接合工序,在该接合工序中,使所述第1基板的所述表面与临时基板接合;第1分离工序,在该第1分离工序中,以所述氢层为边界,使与所述临时基板接合了的所述第1基板分离,将所述第1基板的分离出的所述表面侧的部分作为第1薄膜层而保留在所述临时基板上;支承层形成工序,在该支承层形成工序中,在保留了所述第1薄膜层的所述临时基板上形成由第2半导体材料形成的支承层;第2分离工序,在该第2分离工序中,将所述临时基板去除,从而获得在所述支承层上层叠有所述第1薄膜层的第2基板;以及切除工序,在该切除工序中,将自所述第2基板的外周起预定范围的周缘部切除,所述第1基板为圆板状或圆柱状,所述临时基板的与所述第1基板接合的面的外形的直径为所述第1基板的直径以上,在所述切除工序中,至少将超过所述第1薄膜层的直径的部分作为所述预定范围的周缘部而去除掉。2.根据权利要求1所述的半导体基板的制造方法,其中,在所述临时基板的要与所述第1基板接合的表面上形成有接合层,在所述第2分离工序中,保留所述接合层地去除所述临时基板,从而在所述第2基板层叠有所述接合层,所述半导体基板的制造方法具有自所述第2基板将所述接合层去除的接合层去除工序。3.根据权利要求2所述的半导体基板的制造方法,其中,所述临时基板为碳基板,所述接合层由SiC多晶形成。4.根据权利要求2所述的半导体基板的制造方法,其中,所述临时基板为SiC基板,所述接合层由SiO2形成。5.根据权利要求1所述的半导体基板的制造方法,其中,在所述第1基板的所述表面形成有第1接合层,在所述临时基板的要与所述第1基板接合的表面上形成有第2接合层,在所述接合工序中,使所述第1基板的形成有所述第1接合层的表面与所述临时基板的形成有所述第2接合层的表面接合,所述第1接合层由SiO2以及Si中的一者形成,所述第2接合层由另一者形成。6.根据权利要求5所述的半导体基板的制造方法,其中,所述临时基板为碳基板,所述第1接合层由Si形成,所述第2接合层由SiO2形成。7.根据权利要求1所述的半导体基板的制造方法,其中,在所述第1基板的所述表面上形成有由SiO2形成的第1接合层,所述临时基板为Si基板,在所述接合工序中,使所述第1基板的形成有所述第1接合层的表面与所述Si基板的表面接合。2CN107484431A权利要求书2/2页8.根据权利要求1~7中任一项所述的半导体基板的制造方法,其中,所述半导体基板的制造方法具有缓冲层形成工序,在该缓冲层形成工序中,在所述临时基板上的利用所述第1分离工序保留了所述第1薄膜层的一侧形成由第3半导体材料形成的缓冲层,在所述支承层形成工序中,在所述缓冲层上形成所述支承层,所述第2基板