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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN108400084A(43)申请公布日2018.08.14(21)申请号201810188979.8(22)申请日2018.03.07(71)申请人京东方科技集团股份有限公司地址100015北京市朝阳区酒仙桥路10号(72)发明人孟虎(74)专利代理机构北京安信方达知识产权代理有限公司11262代理人胡艳华李丹(51)Int.Cl.H01L21/02(2006.01)H01L29/165(2006.01)H01L21/336(2006.01)H01L29/786(2006.01)B82Y30/00(2011.01)权利要求书2页说明书7页附图4页(54)发明名称纳米薄膜及其制作方法、薄膜晶体管及其制作方法(57)摘要本发明实施例公开了一种纳米薄膜及其制作方法、薄膜晶体管及其制作方法,其中,纳米薄膜的制作方法包括:将至少两种包含不同纳米材料的溶液混合,形成混合溶液;将混合溶液在衬底基板上制作成初始薄膜;在初始薄膜上形成多个区域,每个区域保留一种纳米材料,以形成纳米薄膜;其中,相邻区域的纳米材料不同。本发明实施例通过将不同纳米材料的溶液混合,对混合溶液进行处理,获得了相邻区域包括不同纳米材料的纳米薄膜,简化了纳米薄膜的制作方法,且材料比例可控,薄膜均匀性较佳。CN108400084ACN108400084A权利要求书1/2页1.一种纳米薄膜的制作方法,其特征在于,包括:将至少两种包含不同纳米材料的溶液混合,形成混合溶液;将所述混合溶液在衬底基板上制作成初始薄膜;在所述初始薄膜上形成多个区域,每个区域保留一种纳米材料,以形成纳米薄膜;其中,相邻区域的纳米材料不同。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述纳米材料为半导体材料,相邻区域的所述半导体材料相接触,构成异质结。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述半导体材料包括:碳纳米管、纳米线、量子点或者二维半导体材料。4.根据权利要求1-3任一所述的方法,其特征在于,所述将至少两种包含不同纳米材料的溶液混合,形成混合溶液之后,所述方法还包括:将所述混合溶液搅拌均匀,使所述混合溶液中的纳米材料均匀分散。5.根据权利要求1-3任一所述的方法,其特征在于,所述将所述混合溶液在衬底基板上制作成初始薄膜包括:将所述混合溶液设置在所述衬底基板上;将所述混合溶液中的溶剂挥发,以制作成初始薄膜。6.根据权利要求1-3任一所述的方法,其特征在于,所述将所述混合溶液设置在所述衬底基板上包括:通过打印工艺或者旋涂工艺将所述混合溶液设置在所述衬底基板上。7.根据权利要求1-3任一所述的方法,其特征在于,在所述初始薄膜上形成多个区域,每个区域保留一种纳米材料包括:依次利用不同的掩膜版对所述初始薄膜进行刻蚀,使得每个区域保留一种纳米材料。8.根据权利要求1-3任一所述的方法,其特征在于,所述将至少两种包含不同纳米材料的溶液混合之前,所述方法还包括:形成至少两种包含不同纳米材料的溶液;其中,至少两种包含不同纳米材料的溶液中的溶剂互溶。9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,若半导体材料为碳纳米管,则形成包含所述碳纳米管的溶液包括:将碳纳米管通过聚合物包覆、超声、离心和过滤处理,获得纯度大于99%的半导体性碳纳米管溶液,其中,溶剂为甲苯,浓度为0.02mg/mL;若半导体材料为硅纳米线,则形成包括硅纳米线的溶液包括:采用化学气相沉积方法制备出金纳米粒子催化生成的硅纳米线,并对催化生长后的硅纳米线进行溶解,获得半导体性硅纳米线溶液,其中,溶剂为乙醇,溶度为0.1mg/mL。10.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,混合溶液中包括:硅纳米线和碳纳米管;则所述依次利用不同的掩模板对所述初始薄膜进行刻蚀,使得每个区域保留一种纳米材料包括:利用第一掩模板,采用氧等离子体刻蚀工艺对所述初始薄膜进行刻蚀,使得第一区域保留硅纳米线;利用第二掩模板,采用六氟化硫干法刻蚀工艺对刻蚀后的初始薄膜进行刻蚀,使得第二区域保留碳纳米管;2CN108400084A权利要求书2/2页其中,所述初始薄膜包括:相邻的第一区域和第二区域。11.一种纳米薄膜,其特征在于,采用权利要求1-10任一所述的纳米薄膜的制作方法制成。12.一种薄膜晶体管,其特征在于,包括:衬底基板和设置在所述衬底基板上的有源层;所述有源层包括多个区域,每个区域由一种纳米材料构成;其中,所述纳米材料为半导体材料,相邻区域的半导体材料不同,且相邻区域的纳米半导体材料相接触,构成异质结。13.根据权利要求12所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述半导体材料包括:碳纳米管、纳米线、量子点或者二维半导体材料。14.一种薄膜晶体管的制作方法,其特征在于,包括:提供一衬底基板;在衬底基板上采用权利要求1-1