基板检测设备及其检测方法.pdf
Jo****34
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基板检测设备及其检测方法.pdf
本发明公开了一种基板检测设备及其检测方法,所述检测方法包括:获取基板的位置;检测并获取残留物信息;以及根据所述残留物信息,判断所述位置的清洁度,并反馈结果。本发明通过光学显微镜进行定位后,启动光阻检测装置对所需位置进行光阻残留检测,可以实现检测完就反馈,简单高效,同时利用机械臂移动检测装置到待检测的位置,相比于传统的方式,大尺寸面板可以不用切片就可执行无损检测的操作,兼顾了耗材利用率与测量效率。
基板检测装置及其方法.pdf
本发明公开了一种基板检测装置,包含装置本体、承载模块、照明摄像模块及控制模块。装置本体的一面可活动地设有位移单元,位移单元的一面设有发光件,并且,装置本体的一面悬设升降单元。承载模块悬设在位移单元的一面,承载模块相对位移单元的一面活动地设有若干个夹固单元,若干个夹固单元可活动地夹持基板,并且,承载模块的本体具有开口。照明摄像模块设置在升降单元上。控制模块电耦接位移单元、升降单元及照明摄像模块。
阵列基板及其制造方法、阵列基板的图案偏移的检测方法.pdf
本发明提供一种阵列基板及其制造方法、阵列基板的图案偏移的检测方法。阵列基板包括至少一个设置在衬底基板上的薄膜晶体管和偏移监控图形,薄膜晶体管包括第一半导体图形、第一保护图形、同层设置的源极和漏极;偏移监控图形包括:与第一半导体图形同层设置的第二半导体图形、与第一保护图形同层设置的第二保护图形、以及与源极和漏极同层设置的像素漏极,像素漏极和漏极电连接,第二保护图形覆盖在第二半导体图形之上,且在第二保护图形上设有第二过孔,像素漏极通过第二过孔与第二半导体图形接触;像素漏极的外轮廓覆盖第二过孔的外轮廓。本发明能
一种玻璃基板检测机构及其检测方法.pdf
本发明涉及玻璃基板检测技术领域,具体涉及一种玻璃基板检测机构及其检测方法,包括安装环和照明单元,安装环上设有活动架,活动架上开设有滑槽,滑槽内设有第一丝杆,第一丝杆和活动架通过轴承转动连接,第一丝杆的外部套设有螺纹连接的滑块,照明单元和滑块固定连接,且照明单元的顶部和活动架的底部相接触,第一丝杆的一端与位于活动架一侧的蜗轮固定连接,蜗轮的一侧设有转轴,安装环上设有支撑部,转轴和支撑部通过轴承转动连接;通过一个电机,即可控制照明单元朝向不同方向移动,以使照明单元到达预设位置,降低了制造成本,同时电机相对安装
阵列基板母板及其检测方法、阵列基板、显示装置.pdf
本发明涉及显示技术领域,提出一种阵列基板母板及其检测方法、阵列基板、显示装置。阵列基板母板包括公共探针垫、多个行列分布的阵列基板单元、第一栅极驱动电路、第二栅极驱动电路。阵列基板单元包括阵列基板、检测信号端、开关电路。检测信号端用于向阵列基板发送或接收检测信号;开关电路用于响应第一控制信号端、第二控制信号端的信号以导通公共探针垫和检测信号端;第一栅极驱动电路中第一移位寄存器单元的输出端与同一行开关电路中的第一控制信号端连接;第二栅极驱动电路中第二移位寄存器单元的输出端与同一列开关电路中的第二控制信号端连接