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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN110490929A(43)申请公布日2019.11.22(21)申请号201910681802.6(22)申请日2019.07.26(71)申请人深圳市华星光电半导体显示技术有限公司地址518132广东省深圳市光明新区公明街道塘明大道9-2号(72)发明人郝鹏(74)专利代理机构深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙)44300代理人黄威(51)Int.Cl.G06T7/70(2017.01)G03F7/00(2006.01)权利要求书1页说明书5页附图3页(54)发明名称基板检测设备及其检测方法(57)摘要本发明公开了一种基板检测设备及其检测方法,所述检测方法包括:获取基板的位置;检测并获取残留物信息;以及根据所述残留物信息,判断所述位置的清洁度,并反馈结果。本发明通过光学显微镜进行定位后,启动光阻检测装置对所需位置进行光阻残留检测,可以实现检测完就反馈,简单高效,同时利用机械臂移动检测装置到待检测的位置,相比于传统的方式,大尺寸面板可以不用切片就可执行无损检测的操作,兼顾了耗材利用率与测量效率。CN110490929ACN110490929A权利要求书1/1页1.一种基板检测设备的检测方法,其特征在于,包括:获取基板的位置;检测并获取残留物信息;以及根据所述残留物信息,判断所述位置的清洁度,并反馈结果。2.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,在所述获取基板的位置的步骤中,使用一镜头通过光收发方式以获取基板的位置。3.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,在所述根据所述残留物信息,判断所述位置的清洁度,并反馈结果的步骤中,若所述位置无所述残留物信息,则判定所述位置无污染,若所述位置有所述残留物信息,则判定所述位置有污染。4.一种基板检测设备,其特征在于,包括处理器和存储器,所述存储器用于存储指令和数据,所述处理器用于执行以下步骤:获取基板的位置;检测并获取残留物信息;以及根据所述残留物信息,判断所述位置的清洁度,并反馈结果。5.根据权利要求4所述的基板检测设备,其特征在于,还包括:相机模块,用于获取基板的位置;检测模块,用于检测及获取残留物信息,所述检测模块设于所述相机模块上;第一移动模块,用于移动所述相机模块;第二移动模块,用于移动所述基板;以及信息处理模块,用于根据残留物信息判断所述位置的清洁度,所述信息处理模块分别与所述相机模块、所述检测模块、所述第一移动模块以及所述第二移动模块连接。6.根据权利要求5所述的基板检测设备,其特征在于,所述信息处理模块包括:判断单元,用于判断基板的清洁度;以及执行单元,用于接收清洁度的反馈结果和控制所述第一移动模块及所述第二移动模块。7.根据权利要求5所述的基板检测设备,其特征在于,所述相机模块包括一镜头。8.根据权利要求5所述的基板检测设备,其特征在于,所述检测模块包括光阻检测装置。9.根据权利要求6所述的基板检测设备,其特征在于,所述第一移动模块用于前后移动所述相机模块。10.根据权利要求10所述的基板检测设备,其特征在于,所述第二移动模块用于左右移动所述基板。2CN110490929A说明书1/5页基板检测设备及其检测方法技术领域[0001]本发明属于终端显示领域,尤其涉及一种基板检测设备及其检测方法。背景技术[0002]有机电致发光器件(OrganicLightEmittingDiode,OLED)以其自发光、全固态、高对比度等优点,成为近年来最具潜力的新型显示器件。用蒸镀设备制备OLED器件是目前生产的主流方式,但蒸镀工艺材料利用率低,均匀性较差的缺点一直缺少有效的解决方案。溶液法制备OLED薄膜,以其材料利用率高,设备造价低等优点,显示出明显的优势。[0003]而溶液法制程包括旋涂、印刷、打印等方式,其中将含有发光(或功能)材料的溶液以微小液滴(pl级)的方式滴落在预定位置,然后将溶剂蒸发去除,只留下溶质(发光或功能材料)形成的薄膜的方法简称为喷墨打印(Ink-JetPrinting,IJP),是目前最适用于目前OLED发光器件的制程。[0004]IJP制备OLED的主要步骤包括:[0005](1)将精准体积的液滴滴落在面板的子像素开口内。[0006](2)通过真空减压干燥将液滴干燥成薄膜。[0007](3)加热退火处理,以提升所得OLED薄膜品质。[0008]目前OLED器件对薄膜品质有着极高的要求,这是因为薄膜质量在很大程度上影响着器件的寿命、光色以及效率等重要参数。为了获得高品质的薄膜,需打印基底干净无污染残留。目前常见的污染残留包括残留颗粒,光阻残留等。通常情况下,残留颗粒在清洗环节易被去除,而光阻残留却无法被常规清洗去除并且难以利用光学显微镜(opticalmicroscope,