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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN113818008A(43)申请公布日2021.12.21(21)申请号202110652056.5(22)申请日2021.06.11(30)优先权数据2020-1064722020.06.19JP(71)申请人东京毅力科创株式会社地址日本东京都(72)发明人坂下训康小川悟(74)专利代理机构北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277代理人刘新宇张会华(51)Int.Cl.C23C16/455(2006.01)C23C16/44(2006.01)权利要求书2页说明书9页附图12页(54)发明名称气体喷嘴、基板处理装置以及基板处理方法(57)摘要本发明涉及气体喷嘴、基板处理装置以及基板处理方法。本发明提供一种能够抑制气体喷嘴顶端的气体滞留的技术。本公开的一个方式的气体喷嘴是沿着大致圆筒形状的处理容器的内壁内侧在铅垂方向上延伸的气体喷嘴,所述气体喷嘴具有:多个第1气体孔,其沿着长度方向空出间隔地设置;以及第2气体孔,其设于顶端,在从长度方向俯视观察时取向为与设有所述多个第1气体孔的一侧相反的一侧,开口面积比所述多个第1气体孔的各自的开口面积大。CN113818008ACN113818008A权利要求书1/2页1.一种气体喷嘴,其是沿着大致圆筒形状的处理容器的内壁内侧在铅垂方向上延伸的气体喷嘴,其中,所述气体喷嘴具有:多个第1气体孔,其沿着长度方向空出间隔地设置;以及第2气体孔,其设于顶端,在从长度方向俯视观察时取向为与设有所述多个第1气体孔的一侧相反的一侧,开口面积比所述多个第1气体孔的各自的开口面积大。2.根据权利要求1所述的气体喷嘴,其中,所述第2气体孔的相对于所述长度方向的取向角度为30度~90度。3.根据权利要求1或2所述的气体喷嘴,其中,所述第2气体孔是圆形、椭圆形、长方形或圆角长方形的开口。4.根据权利要求1~3中任一项所述的气体喷嘴,其中,该气体喷嘴具有第3气体孔,该第3气体孔设于所述顶端,在从所述长度方向俯视观察时取向为与设有所述多个第1气体孔的一侧相反的一侧,且是取向为与所述第2气体孔不同的方向。5.根据权利要求1~4中任一项所述的气体喷嘴,其中,所述第1气体孔取向为所述处理容器的中心侧,所述第2气体孔取向为所述处理容器的附近的内壁侧。6.一种基板处理装置,其中,该基板处理装置具备:大致圆筒形状的处理容器;以及气体喷嘴,其沿着所述处理容器的内壁内侧在铅垂方向上延伸,所述气体喷嘴具有:多个第1气体孔,其沿着长度方向空出间隔地设置;以及第2气体孔,其设于顶端,在从长度方向俯视观察时取向为与设有所述多个第1气体孔的一侧相反的一侧,开口面积比所述多个第1气体孔的各自的开口面积大。7.一种基板处理方法,其中,该基板处理方法具有如下工序:从第1气体喷嘴向处理容器内喷出第1处理气体的工序;从第2气体喷嘴向所述处理容器内喷出与所述第1处理气体反应而生成反应生成物的第2处理气体的工序;以及使包括喷出所述第1处理气体的工序和喷出所述第2处理气体的工序的循环重复的工序,所述第1气体喷嘴和所述第2气体喷嘴沿着大致圆筒形状的处理容器的内壁内侧在铅垂方向上设置,所述第2气体喷嘴具有:多个第1气体孔,其沿着长度方向空出间隔地设置;以及第2气体孔,其设于顶端,在从长度方向俯视观察时取向为与设有所述多个第1气体孔的一侧相反的一侧,开口面积比所述多个第1气体孔的各自的开口面积大。8.根据权利要求7所述的基板处理方法,其中,2CN113818008A权利要求书2/2页所述第1处理气体是含有硅或金属的原料气体,所述第2处理气体是含有氧或氮的反应气体。3CN113818008A说明书1/9页气体喷嘴、基板处理装置以及基板处理方法技术领域[0001]本公开涉及气体喷嘴、基板处理装置以及基板处理方法。背景技术[0002]已知有成膜装置,其以如下方式构成:该成膜装置具备气体供给单元,该气体供给单元具有沿着处理容器的长度方向延伸且形成有多个气体喷射孔的分散喷嘴,在分散喷嘴的上端设置微粒释放孔(例如,专利文献1)。[0003]现有技术文献[0004]专利文献[0005]专利文献1:日本特开2013‑157491号公报发明内容[0006]发明要解决的问题[0007]本公开提供一种能够抑制气体喷嘴顶端的气体滞留的技术。[0008]用于解决问题的方案[0009]本公开的一技术方案的气体喷嘴是沿着大致圆筒形状的处理容器的内壁内侧在铅垂方向上延伸的气体喷嘴,所述气体喷嘴具有:多个第1气体孔,其沿着长度方向空出间隔地设置;以及第2气体孔,其设于顶端,在从长度方向俯视观察时取向为与设有所述多个第1气体孔的一侧相反的一侧,开口面积比所述多个第1气体孔的各自的开口面积大。[0010]发明的效果[0