用于检查铆钉的方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN106471331A(43)申请公布日2017.03.01(21)申请号201580036377.5(74)专利代理机构中国专利代理(香港)有限公(22)申请日2015.05.04司72001代理人杨国治张昱(30)优先权数据102014106312.02014.05.06DE(51)Int.Cl.G01B11/02(2006.01)(85)PCT国际申请进入国家阶段日G01B11/08(2006.01)2017.01.03G06T7/00(2017.01)(86)PCT国际申请的申请数据B21J15/32(2006.01)PCT/EP2015/0596732015.05.04B21J15/28(2006.01)(87)PCT国际申请的公布数据WO2015/169727DE2015.11.12(71)申请人布勒特耶自动控制设备有限责任公司地址德国拉斯特德(72)发明人W.菲肯B-M.沃尔夫权利要求书2页说明书5页附图4页(54)发明名称用于检查铆钉的方法(57)摘要本发明涉及用于检查铆钉（1）的方法，其中，所述铆钉（1）在所述铆钉机器（4）运行期间从铆钉供应站（2）沿着运输路段（3）朝着铆钉机器（4）的方向来运送。所述方法的特征在于，所述铆钉（1）在所述运输路段（3）上来测量以用于确定所述铆钉（1）的铆钉几何结构。本发明同样涉及用于检查铆钉（1）的相应的测量装置。CN106471331ACN106471331A权利要求书1/2页1.用于检查铆钉（1）的方法，其中，所述铆钉（1）在铆钉机器（4）运行期间从铆钉供应站（2）沿着运输路段（3）朝着所述铆钉机器（4）的方向来运送，其特征在于，所述铆钉（1）在所述运输路段（3）上被测量以用于确定所述铆钉（1）的铆钉几何结构。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述铆钉（1）通过光学的测量方法测量，优选地，测量所述铆钉（1）的头部直径（7）、杆部直径（8）、过渡半径（9）、杆部长度（10）和/或头部长度（11）。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述铆钉（1）的确定的铆钉几何结构与所述开孔（6）的优选地经测量的几何结构参数针对遵守公差标准来比较。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在遵守所述公差标准的情况下，将所述铆钉（1）运送至所述铆钉机器（4）并且所述铆钉通过所述铆钉机器插入到在构件（6a）处的开孔（6）中并且进行变形。5.根据权利要求3至4中任一项所述的方法，其特征在于，在超过所述公差标准的情况下，所述铆钉（1）被运送到剔除位置中。6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其特征在于，所述铆钉（1）通过软管装置（12）从所述铆钉供应站（2）朝着所述铆钉机器（4）的方向运输并且所述软管装置（12）具有检查区段（13），所述运输路段（3）引导通过所述检查区段，在所述检查区段（13）中测量所述铆钉（1），优选地，所述铆钉（1）在所述铆钉的运输中被拦住在所述检查区段（13）中持续测量持续时间。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述软管装置（12）在所述检查区段（13）中具有接片（14）用于沿着所述运输路段（3）引导所述铆钉（1）以及具有布置在所述接片（14）之间的开缝（15）用于测量所述铆钉（1），优选地，所述开缝（15）关于所述运输路段（3）基本上对置地布置。8.根据权利要求6或7所述的方法，其特征在于，所述铆钉（1）由配属于所述检查区段（13）的检查装置（16）来测量，其中，所述检查装置（16）的照明组件（17）照明所述铆钉（1）并且所述检查装置（16）的摄像头组件（18）检测所述铆钉（1），尤其检测通过所述照明组件（17）引起的、所述铆钉（1）的后部发光。9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述摄像头组件（18）三维地检测所述铆钉（1），优选地，所述摄像头组件（18）从至少两个视野方向（19a、19b）检测所述铆钉（1），所述两个视野方向（19a、19b）尤其基本上彼此正交地取向。10.根据权利要求8或9所述的方法，其特征在于，所述摄像头组件（18）检测所述铆钉（1）的倾斜位置，优选地，修正基于所检测的倾斜位置来测量的铆钉几何结构、尤其杆部长度（10）和头部长度（11）。11.根据权利要求8至10中任一项所述的方法，其特征在于，所述照明组件（17）关于所述铆钉（1）基本上对置于所述摄像头组件（18）布置，优选地，所述照明组件（17）和/或所述摄像头组件（18）分别具有远心的物镜用于测量所述铆钉（1）。12.根据权利要求6至11中任一项所述的方法，其特征在于，布置有测量腔室（20a、20b）用于气密地围绕所述检查区段（13）进行密封，优选地，所述测量腔室（20a、20b）设