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(19)中华人民共和国国家知识产权局*CN102200762A*(12)发明专利申请(10)申请公布号CN102200762A(43)申请公布日2011.09.28(21)申请号201110096390.3(22)申请日2011.04.17(71)申请人丁仕燕地址213000江苏省常州市天宁区通江南路299号常州工学院(72)发明人丁仕燕(51)Int.Cl.G05B19/19(2006.01)G01B11/24(2006.01)G01B11/02(2006.01)G01B11/26(2006.01)权利要求书2页说明书6页附图2页(54)发明名称凸轮轮廓检测用数控系统(57)摘要本发明提供了一种结构简单、检测精度和效率较高的凸轮轮廓检测用数控系统,其包括:用于带动凸轮绕垂向的心轴水平同轴旋转的数控转台、水平设于数控转台一侧的导轨同步带组件、设于该导轨同步带组件中的同步带上且于凸轮一侧的激光测距头、用于测量所述激光测距头的水平位移量的光栅尺位移传感器、用于检测凸轮的旋转角度的编码器、以及工控机;所述工控机控制所述数控转台和导轨同步带组件动作,并根据所述激光测距头、光栅尺位移传感器和编码器测得的数据计算出凸轮的外轮廓数据。CN10276ACCNN110220076202200768A权利要求书1/2页1.一种凸轮轮廓检测用数控系统,其特征在于包括:用于带动凸轮(10)绕垂向的心轴(1-1)水平同轴旋转的数控转台(1)、水平设于数控转台(1)一侧的导轨同步带组件(3)、设于该导轨同步带组件(3)中的同步带(3-1)上且于凸轮(10)一侧的激光测距头(2)、用于测量所述激光测距头(2)的水平位移量的光栅尺位移传感器(4)、用于检测凸轮(10)的旋转角度的编码器(5)、以及工控机;所述工控机控制所述数控转台(1)和导轨同步带组件(3)动作,并根据所述激光测距头(2)、光栅尺位移传感器(4)和编码器(5)测得的数据计算出凸轮(10)的外轮廓数据。2.根据权利要求1所述的凸轮轮廓检测用数控系统,其特征在于:所述激光测距头(2)通过一滑块(8)设于导轨同步带组件(3)中的导轨(3-2)上,滑块(8)与所述同步带(3-1)固定相连;所述导轨(3-2)两端设有带轮(3-3),所述同步带(3-1)设于该对带轮(3-3)上,且其中的一个带轮(3-3)与一步进电机(7)传动相连,所述数控转台(1)与一转台电机(6)传动相连;所述工控机包括:用于实时控制所述数控转台(1)和步进电机(7)动作的运动控制卡,与所述激光测距头(2)相连的用于实时检测激光测距头(2)与凸轮(10)的外轮廓的间距的激光位移传感器采集卡,与所述光栅尺位移传感器(4)和编码器(5)相连的编码器计数卡,以及通过系统总线与所述运动控制卡、激光位移传感器采集卡和编码器计数卡相连的CPU单元;所述运动控制卡通过一转台电机驱动器控制转台电机(6)的动作,进而控制所述数控转台(1)动作;运动控制卡同时通过一步进电机驱动器控制步进电机(7)动作。3.根据权利要求2所述的凸轮轮廓检测用数控系统,其特征在于:在所述凸轮(10)的旋转角度为θi时,测得的凸轮(10)的外轮廓与激光测距头(2)的间距即第一间距测量值为;同时,光栅尺位移传感器(4)测量得的所述滑块(8)在水平方向与光栅尺位移传感器(4)的硬零位()的间距即第二间距测量值为,i=1,2,3…n;i为凸轮(10)旋转一周的过程中同时检测所述第一、第二间距测量值、的次数,0°≤θi<360°;所述凸轮轮廓检测用数控系统的检测方法包括:A)、将激光测距头(2)与心轴(1-1)的外圆的间距即第一间距控制在激光测距头(2)的量程内,然后检测并记录所述第一间距,同时检测并记录所述滑块(8)在水平方向与所述硬零位()的间距即第二间距;B)、将凸轮(10)无间隙配合于所述心轴(1-1)上,若已知凸轮(10)的外轮廓数据,则在开始控制凸轮(10)旋转一周的同时,控制激光测距头(2)相对凸轮(10)的外轮廓按照+的轨迹运动;同时,控制所述第一间距测量值始终处于激光测距头(2)的量程内,并获取与凸轮(10)的旋转角度θi相对应的所述第一、第二间距测量值、;C)、由心轴直径ød和所述、、、,计算出凸轮(10)的极径测量值:2CCNN110220076202200768A权利要求书2/2页D)、将所述极径测量值与所述外轮廓数据相比较,得出凸轮(10)的外轮廓加工误差。4.根据权利要求2所述的凸轮轮廓检测用数控系统,其特征在于:在所述凸轮(10)的旋转角度为θi时,测得的凸轮(10)的外轮廓与激光测距头(2)的间距即第一间距测量值为;同时,光栅尺位移传感器(4)测量得的所述滑块(8)在水平方向与光栅尺位移传感器(4)的硬零位()的间距即第二间距测量值为,i=1,2,3