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基于边界扫描技术的集成电路测试系统设计与实现
随着集成电路技术的发展，集成度越来越高，结构越来越复杂。因此，测试成为了集成电路生产中的关键问题。集成电路测试可以帮助生产商检测出错误的芯片，同时降低生产成本和提高生产效率。
边界扫描技术是一种常用的测试方法，它可用于测试集成电路中的逻辑电路和存储电路。边界扫描技术可以通过向芯片的外部引出一个扫描输入端和一个扫描输出端，使得芯片内部的各个逻辑单元都能通过扫描技术进行测试。对于存储器的测试，边界扫描技术可以极大的提高测试效率和测试准确性。
基于边界扫描技术的测试系统主要包括测试软件和测试硬件两部分。测试软件是指用来控制测试过程和生成测试数据的软件，测试硬件是指用来执行测试操作和获取测试数据的硬件。
在测试软件方面，需要实现以下功能：
1.芯片扫描控制：控制扫描输入端和扫描输出端的信号以及扫描过程中数据的流动方向。
2.测试程序设计：设计测试程序来检查芯片中的每个逻辑单元，使其能够进行正确的测试。
3.测试数据处理：处理测试数据，判断每一个被测试的逻辑单元是否能够正常工作。
在测试硬件方面，需要实现以下功能：
1.扫描信号生成和处理：生成扫描输入/输出信号并将其发送到芯片，获取扫描输出信号和处理它们。
2.时序控制：控制测试结果的采样时间和数据流控制等关键时序的产生。
3.环境控制：控制测试过程中环境信号的产生和控制。
最终得到的测试结果用于判断芯片是否符合规格要求。在测试之后，测试系统可以生成测试报告，以便进行进一步的分析和处理。
总的来说，基于边界扫描技术的测试系统可以大大提高集成电路的测试速度和测试精度，从而提高生产效率和产品质量。