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基于边界扫描的SRAM测试技术的研究与实现
基于边界扫描的SRAM测试技术的研究与实现
摘要：
随着集成电路技术的发展，静态随机存储器（SRAM）在现代计算机系统中扮演着重要的角色。然而，由于制程工艺的不可避免缺陷和长期运行的引起的硬件老化，SRAM存在着可能的故障和失效。因此，确保SRAM的可靠性和稳定性是非常重要的。本文通过研究和实现基于边界扫描的SRAM测试技术，探讨了如何进行SRAM的故障检测与故障定位。
1.引言
静态随机存储器（SRAM）作为一种常见的高速存储器，广泛应用于现代计算机系统中。然而，由于制程工艺的不可避免缺陷和长期运行的引起的硬件老化，SRAM存在着可能的故障和失效。因此，确保SRAM的可靠性和稳定性是非常重要的。
2.SRAM测试技术概述
SRAM测试技术是通过一系列测试流程来检测SRAM中的故障和失效。常见的SRAM测试技术包括功能测试、边界扫描测试、故障模拟测试等。其中，基于边界扫描的SRAM测试技术是一种广泛应用且效果良好的方法。
3.基于边界扫描的SRAM测试技术原理
基于边界扫描的SRAM测试技术利用边界扫描链和测试模式生成器来推动测试序列，通过监控输出边界扫描链的数值来检测SRAM中的故障。具体来说，边界扫描链通过扫描进入SRAM单元的激励信息，再经过SRAM单元后，扫描出SRAM单元的输出信息，从而实现对SRAM的测试。
4.基于边界扫描的SRAM测试技术的设计与实现
在本研究中，我们设计了一个基于边界扫描的SRAM测试技术的实验平台。该实验平台包括了边界扫描链的设计、测试模式生成器的设计、测试序列的推动以及故障定位算法的实现等。通过实验平台的搭建，我们能够对SRAM的故障进行检测和定位。
5.实验结果与分析
我们通过实验对不同类型的SRAM故障进行了测试。实验结果表明，基于边界扫描的SRAM测试技术能够准确地检测到SRAM中的故障，并能够实现故障的精确定位。同时，我们对实验结果进行了详细分析和讨论，进一步验证了基于边界扫描的SRAM测试技术的有效性和可靠性。
6.结论
本文通过研究和实现基于边界扫描的SRAM测试技术，探讨了如何进行SRAM的故障检测与故障定位。实验结果表明，基于边界扫描的SRAM测试技术能够准确地检测到SRAM中的故障，并能够实现故障的精确定位。未来的工作可以进一步优化测试技术，提高测试效率和准确性。
参考文献：
[1]ZhangZ,QiJ,LiZ.ASurveyonSRAMTestingandRepairTechniques.AdvancesinComputing,CommunicationsandControl(AC3),2015.
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