一种检测导电结构缺陷的柔性阵列涡流探头及检测方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利(10)授权公告号CN104792861B(45)授权公告日2018.05.29(21)申请号201510258489.7(56)对比文件(22)申请日2015.05.20CN102841136A,2012.12.26,US4990851A,1991.02.05,(65)同一申请的已公布的文献号US5047719A,1991.09.10,申请公布号CN104792861AUS7560920B1,2009.07.14,(43)申请公布日2015.07.22JP特開平8-334498A,1996.12.17,(73)专利权人上海海事大学CN2742436Y,2005.11.23,地址201306上海市浦东新区临港新城海CN101802603A,2010.08.11,港大道1550号肖春燕.柔性探头涡流检测复杂曲面结构缺陷的研究.《微计算机应用》.2011,第32卷(第9(72)发明人张思全期),第29-32页.(74)专利代理机构上海信好专利代理事务所审查员唐仕军(普通合伙)31249代理人包姝晴(51)Int.Cl.G01N27/90(2006.01)权利要求书2页说明书7页附图7页(54)发明名称一种检测导电结构缺陷的柔性阵列涡流探头及检测方法(57)摘要本发明涉及一种检测导电结构缺陷的柔性阵列涡流探头及检测方法，在柔性阵列涡流探头的柔性结构中嵌入按径向或按圆周向排成平面阵列的多个线圈；使柔性结构与被检测部件的三维表面形状相适应，并且使探头表面与被检测部件的表面紧密接触，减少提离干扰；根据设定的控制逻辑分时激励探头中的各个线圈，对与被激励线圈相邻的一个或多个线圈进行信号采集，获得被检测部件表面对应位置的缺陷信号；各个线圈的激励与信号采集按空间顺序和/或时间顺序依次轮循，达到快速且全覆盖检测的目的。CN104792861BCN104792861B权利要求书1/2页1.一种检测导电结构缺陷的检测方法，其特征在于，在柔性阵列涡流探头的柔性结构中嵌入多个线圈，所述线圈按径向或按圆周向排列形成平面阵列；使柔性结构与被检测部件的三维表面形状相适应，并且使探头表面与被检测部件的表面紧密接触；根据设定的控制逻辑，分时激励探头中的各个线圈，任意两个相邻的线圈不同时被激励；对与被激励线圈相邻的一个或多个线圈进行信号采集，获得被检测部件表面对应位置的缺陷信号；各个线圈的激励与信号采集按空间顺序和/或时间顺序依次轮循；其中一些线圈，位于探头的多个径向上；所述的控制逻辑是对于所有径向的线圈进行激励与信号采集轮循；其中，对于任意一个径向上的任意一个线圈进行激励时，从该径向上与被激励线圈相邻的下一个线圈进行信号采集；再对所述下一个线圈进行激励，并从该径向上与被激励的下一个线圈相邻的更下一个线圈进行信号采集；直到对该径向上的所有线圈完成分时激励与信号采集的轮循。2.如权利要求1所述检测导电结构缺陷的检测方法，其特征在于，其中一些线圈，位于探头上同心的多个圆环上；设被激励线圈所在的圆环为内层圆环，而与该内层圆环相邻并环绕在该内层圆环之外的圆环为外层圆环；所述的控制逻辑替换为内层圆环的任意一个线圈被激励时，从外层圆环上与被激励线圈相邻的多个方向的线圈同时进行信号采集；再对内层圆环上的下一个线圈进行激励，并从外层圆环上与被激励的下一个线圈相邻的多个方向的线圈同时进行信号采集；对内层圆环上的线圈进行激励的轮循，直到完成该外层圆环上所有线圈的信号采集的轮循；其中，对内层圆环上的线圈进行激励的轮循，是指对内层圆环上的每个线圈依次序分时激励，或者对内层圆环上的线圈间隔一个或间隔多个后分时激励。3.如权利要求1所述检测导电结构缺陷的检测方法，其特征在于，其中一些线圈，位于探头上同心的多个圆环上；所述的控制逻辑替换为对于所有圆环的线圈进行激励与信号采集轮循；其中，对于任意一个圆环上的任意一个线圈进行激励时，从该圆环上与被激励线圈相邻的下一个线圈进行信号采集；再对所述下一个线圈进行激励，并从该圆环上与被激励的下一个线圈相邻的更下一个线圈进行信号采集；直到对该圆环上的所有线圈完成分时激励与信号采集的轮循。4.一种检测导电结构缺陷的柔性阵列涡流探头，其特征在于，多个线圈形成平面阵列，并嵌入在与被检测部件的三维表面形状相适应的柔性结构中；2CN104792861B权利要求书2/2页基于权利要求1-3中任意一项所述检测导电结构缺陷的检测方法中设定的控制逻辑，使阵列中的一个或多个线圈作为被激励的激励线圈时，与各个激励线圈相邻的一个或多个线圈作为信号采集线圈，用以获得位于激励线圈及信号采集线圈下方被检测部件表面对应位置的缺陷信号；将探头包含的多个线圈分组成多个线圈组件；探头上的线圈按径向排列，使各线圈组件从探头上的设定点各自向外延伸；或者