Ge(Si)基稀磁半导体的结构与性质研究的综述报告.docx
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Ge(Si)基稀磁半导体的结构与性质研究的综述报告近年来,稀磁半导体在磁电子学和自旋电子学中得到了广泛应用。其中,基于Ge(Si)的稀磁半导体备受关注。本文将综述其结构与性质研究进展。Ge(Si)基稀磁半导体的结构晶体结构主要有两种:锗基和硅基。其中锗基结构相对稳定,能够制备大面积单晶。硅基结构则相对不稳定,因此需要采用分子束外延法(MBE)和金属有机化合物气相沉积法(MOCVD)等高精度方法进行生长。与普通半导体相比,稀磁半导体的磁性质是其独特的特点之一。Ge(Si)基稀磁半导体的磁性质取决于其电子结构
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Ge(Si)基稀磁半导体的结构与性质研究的中期报告本中期报告旨在探讨Ge(Si)基稀磁半导体的结构与性质研究进展,主要分为以下几个方面:1.材料制备目前,主要的制备方法包括分子束外延(MBE)、金属有机化学气相沉积(MOCVD)和化学气相沉积(CVD)等方法。从实验结果来看,MBE能够制备出品质较高的Ge(Si)基稀磁半导体,但成本较高;与之相比,MOCVD和CVD则相对成本更低,并且可以制备大面积的样品。但是,这些方法目前还面临着一些挑战,如杂质控制、晶格匹配和材料组分一致性等问题。2.材料结构Ge(S
Mn、Fe掺杂Ge基稀磁半导体材料的制备研究的综述报告.docx
Mn、Fe掺杂Ge基稀磁半导体材料的制备研究的综述报告Mn、Fe掺杂Ge基稀磁半导体材料已经成为当前热门的研究领域,其主要研究目的在于实现可控磁性半导体的制备、优化磁性半导体的性能及开发其在磁存储、磁电子等领域的应用。本文将综述Mn、Fe掺杂Ge基稀磁半导体材料的制备研究进展。一、Mn掺杂Ge基稀磁半导体材料的制备研究1.溶胶-凝胶(SG)法制备Mn掺杂Ge基稀磁半导体材料2014年,一项研究报道了采用溶胶-凝胶法制备Mn掺杂Ge基稀磁半导体材料的研究结果。研究表明,制备的Mn掺杂Ge基稀磁半导体材料具有
Si基稀磁半导体薄膜的磁性研究的开题报告.docx
Mn掺杂Ge/Si基稀磁半导体薄膜的磁性研究的开题报告摘要:稀磁半导体材料在磁电子学领域中具有重要应用价值。本文研究Mn掺杂Ge/Si基稀磁半导体薄膜的磁性质。采用分子束外延技术制备Mn掺杂Ge/Si基薄膜。通过X射线衍射、扫描电镜、拉曼光谱等手段对其结构和形貌进行表征。利用霍尔效应和磁性测量系统测量其电学和磁学性质。研究发现,Mn掺杂Ge薄膜的晶格常数略微增加,Si基薄膜的晶格常数几乎不变,表明Mn掺杂主要影响了Ge薄膜的晶格结构。薄膜中形成了Mn离子的磁性电子态,随着Mn掺杂浓度的增加,磁矩增强,磁滞
Si基稀磁半导体的制备与电磁性质研究的任务书.docx
Si基稀磁半导体的制备与电磁性质研究的任务书一、课题背景与意义稀磁半导体是一类具有特殊磁性和电学性质的新型材料,它们具有自旋极化、长弛豫时间和金属电导等优异的特性,广泛应用于磁性存储、自旋电子学和量子计算等领域。其中,Si基稀磁半导体由于其具有适宜的晶体结构和简单的制备工艺,成为当前研究的重点。然而,尽管这些材料具有良好的潜力和实用价值,但其制备质量和电磁性质的研究还需要进一步深入。当前,国内外学者在Si基稀磁半导体的制备方法、修饰以及磁电传输性质等各个方面,开展了大量的研究工作,但是,对于Si基稀磁半导