一种应用于集成电路板检测的冷却输送滚道.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN105914173A(43)申请公布日2016.08.31(21)申请号201610462576.9(22)申请日2016.06.20(71)申请人东莞市联洲知识产权运营管理有限公司地址523000广东省东莞市松山湖高新技术产业工发区生产力大厦406(72)发明人王文庆(74)专利代理机构北京众合诚成知识产权代理有限公司11246代理人连平(51)Int.Cl.H01L21/67(2006.01)H01L21/677(2006.01)H01L21/66(2006.01)权利要求书1页说明书2页附图1页(54)发明名称一种应用于集成电路板检测的冷却输送滚道(57)摘要本发明公开了一种应用于集成电路板检测的冷却输送滚道，包括滚道机架两侧的支撑边板，支撑边板之间设有若干滚轴，若干滚轴的两端铰接有轴承座，轴承座固定在支撑边板上，滚轴的一端伸出轴承座固定连接有链轮，滚轴另一端的端面上成型有沉孔，沉孔的内壁上成型有若干贯穿滚轴外壁的通孔，所述的滚轴插套有滚筒，滚筒的两端插接有密封环，密封环插套固定在滚轴上，滚轴上的通孔位于滚筒两端的密封环之间，所述的滚筒上成型有若干吸气孔，滚筒的下方设有防护板，防护板通过支架固定于滚道机架上，防护板由水平的挡板和梯形的导流板组成，挡板位于滚筒的正下方，导流板分布在滚筒之间。它在输送过程中实现加速冷却，减少冷却的时间，提高测试效率。CN105914173ACN105914173A权利要求书1/1页1.一种应用于集成电路板检测的冷却输送滚道，包括滚道机架两侧的支撑边板(1)，支撑边板(1)之间设有若干滚轴(2)，若干滚轴(2)的两端铰接有轴承座(3)，轴承座(3)固定在支撑边板(1)上，滚轴(2)的一端伸出轴承座(3)固定连接有链轮(4)，其特征在于：滚轴(2)另一端的端面上成型有沉孔(21)，沉孔(21)的内壁上成型有若干贯穿滚轴(2)外壁的通孔(22)，所述的滚轴(2)插套有滚筒(5)，滚筒(5)的两端插接有密封环(6)，密封环(6)插套固定在滚轴(2)上，滚轴(2)上的通孔(22)位于滚筒(5)两端的密封环(6)之间，所述的滚筒(5)上成型有若干吸气孔(51)，滚筒(5)的下方设有防护板(7)，防护板(7)通过支架固定于滚道机架上，防护板(7)由水平的挡板(71)和梯形的导流板(72)组成，挡板(71)位于滚筒(5)的正下方，导流板(72)分布在滚筒(5)之间。2.根据权利要求1所述的一种应用于集成电路板检测的冷却输送滚道，其特征在于：所述滚筒(5)上的吸气孔(51)设有多列，多列吸气孔(51)绕滚筒(5)的中心轴线呈环形均匀分布在滚筒(5)上。3.根据权利要求1所述的一种应用于集成电路板检测的冷却输送滚道，其特征在于：所述滚轴(2)上的通孔(22)呈线性均匀分布在滚轴(2)上。4.根据权利要求1所述的一种应用于集成电路板检测的冷却输送滚道，其特征在于：所述的滚轴(2)一端的链轮(4)通过链条相连接，滚轴(2)的另一端铰接于吸气管道。5.根据权利要求1所述的一种应用于集成电路板检测的冷却输送滚道，其特征在于：所述防护板(7)的长度大于滚筒(5)的长度。2CN105914173A说明书1/2页一种应用于集成电路板检测的冷却输送滚道技术领域：[0001]本发明涉及集成电路检测装置的技术领域，更具体地说涉及一种应用于集成电路板检测的冷却输送滚道。背景技术：[0002]通常，在集成电路的制造过程中就需要对集成电路进行一系列的测试，将已经早期失效的集成电路尽早的从生产流程中剔除，以达到降低生产成本的目的。为了模仿使用环境，通常在测试集成电路时，需要对集成电路进行加热，在高温的环境下对集成电路进行各种测试。同一集成电路在制造过程中涉及多种测试，一些集成电路需要在不同温度下进行不同的测试，而当相邻两次测试的温度相差较大时，则就需要对集成电路进行冷却，采用自然降温，则其冷却时间较长，影响测试的效率。发明内容：[0003]本发明的目的就是针对现有技术之不足，而提供了一种应用于集成电路板检测的冷却输送滚道，其在输送过程中实现加速冷却，减少冷却的时间，提高测试效率。[0004]为实现上述目的，本发明的技术方案如下：[0005]一种应用于集成电路板检测的冷却输送滚道，包括滚道机架两侧的支撑边板，支撑边板之间设有若干滚轴，若干滚轴的两端铰接有轴承座，轴承座固定在支撑边板上，滚轴的一端伸出轴承座固定连接有链轮，滚轴另一端的端面上成型有沉孔，沉孔的内壁上成型有若干贯穿滚轴外壁的通孔，所述的滚轴插套有滚筒，滚筒的两端插接有密封环，密封环插套固定在滚轴上，滚轴上的通孔位于滚筒两端的密封环之间，所述的滚筒上成型有若干吸气孔，滚筒的下方设有防护板，防护板通过支架固