磁通量密度测量装置及其测量方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN105974342A(43)申请公布日2016.09.28(21)申请号201610523599.6(22)申请日2016.07.06(71)申请人苏州富强科技有限公司地址215000江苏省苏州市高新区浒关镇浒莲路68号(72)发明人吴加富缪磊吴旭东高迎辉(74)专利代理机构北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙)11369代理人韩飞(51)Int.Cl.G01R33/12(2006.01)G01R33/07(2006.01)权利要求书2页说明书8页附图6页(54)发明名称磁通量密度测量装置及其测量方法(57)摘要本发明公开一种磁通量密度测量装置，包括具有第一导轨的平台；通过第一导轨滑动连接到平台的定位装置，用于容纳和定位充磁磁铁；测量装置，其包括固定连接到平台且位于第一导轨正上方的测量探头，采集定位装置在第一导轨上滑行且通过测量探头下方时产生的霍尔电压信号；控制装置，其包括控制器、数据采集卡和驱动机构；第一导轨设第一标尺光栅，定位装置设有光栅读数头，读取定位装置沿第一导轨滑行的第一位移信息并发送给控制器以输出触发间距信号给数据采集卡，数据采集卡每隔一个触发间距读取霍尔电压信号并将其转换成磁通量密度值发送到控制器。本发明实现了对充磁磁铁磁通量密度的空间一维轮廓的高速自动化在线测量，测量效率高、测量精度高。CN105974342ACN105974342A权利要求书1/2页1.一种磁通量密度测量装置，其特征在于，包括：平台，其上设有供水平方向滑行的第一导轨；定位装置，其用于容纳和定位充磁磁铁，所述充磁磁铁与所述定位装置表面齐平；所述定位装置通过所述第一导轨滑动连接到所述平台上；测量装置，其包括固定连接到所述平台且位于所述第一导轨正上方的测量探头，用于采集载有充磁磁铁的所述定位装置在所述第一导轨上滑行且通过所述测量探头下方时产生的霍尔电压信号；以及，控制装置，其包括控制器、数据采集卡和驱动机构；所述驱动机构连接到所述控制器，用于驱动所述定位装置沿所述第一导轨滑行；其中，所述第一导轨设有与其齐平的第一标尺光栅，所述定位装置设有光栅读数头，所述光栅读数头在所述第一标尺光栅配合下读取所述定位装置沿所述第一导轨滑行的第一位移信息并发送给所述控制器；所述控制器根据所述第一位移信息输出触发间距信号给所述数据采集卡，所述数据采集卡每隔一个触发间距读取所述霍尔电压信号并将其转换成磁通量密度值发送到所述控制器。2.如权利要求1所述的磁通量密度测量装置，其特征在于，所述测量装置包括：探头固定装置，其用于固定所述测量探头；第一定位销，其用于将所述探头固定装置固定连接到所述平台。3.如权利要求1所述的磁通量密度测量装置，其特征在于，所述平台还设有供竖直方向滑行的第二导轨、位于所述测量探头旁边的激光位移传感器，所述激光位移传感器连接到所述控制器；所述测量装置包括固定所述测量探头的探头固定装置，所述探头固定装置通过所述第二导轨在所述平台上沿竖直方向滑行；其中，所述激光位移传感器用于读取其与所述充磁磁铁表面之间垂直的第一距离发送给所述控制器。4.如权利要求1或3所述的磁通量密度测量装置，其特征在于，所述平台设有供水平方向滑行的第三导轨；所述第三导轨的滑行方向与所述第一导轨的滑行方向垂直；所述第一导轨滑动连接到所述第三导轨上。5.如权利要求4所述的磁通量密度测量装置，其特征在于，所述第三导轨设有与所述第三导轨齐平的第二标尺光栅，所述光栅读数头在所述第二标尺光栅配合下读取所述定位装置沿所述第三导轨滑行的第二位移信息并发送给所述控制器。6.如权利要求1所述的磁通量密度测量装置，其特征在于，所述定位装置包括：定位块，其设有容纳充磁磁铁的凹槽；第二定位销，若干个所述第二定位销分别固定连接到所述凹槽的两个相邻侧；弹性装置，其为分别位于所述凹槽另外两个相邻侧的第一弹性组件和第二弹性组件；其中，所述定位块上还设有第一滑槽、第二滑槽；所述第一弹性组件沿所述第一滑槽滑行、所述第二弹性组件沿所述第二滑槽滑行以实现各自相对于所述定位块的弹开或返回。7.如权利要求6所述的磁通量密度测量装置，其特征在于，所述第一弹性组件，其包括位于所述凹槽外侧的第一弹块、贯穿所述定位块且连接到2CN105974342A权利要求书2/2页所述第一弹块的第二弹块、第一弹簧以及贯穿所述定位块一外侧的按钮；所述第二弹块一端通过所述第一弹簧连接到所述定位块、所述第二弹块另一端与所述按钮固定连接；所述第二弹性组件，其包括位于所述凹槽外侧的第三弹块、贯穿所述定位块且连接到所述第三弹块的第四弹块、第二弹簧；所述第四弹块通过所述第二弹簧连接到所述定位块；其中，所述第一弹块与所述第二弹块分别位于所述凹槽的另外两个相邻侧；所述第二弹块设有凸起，所述