一种遗留物检测方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN106650638A(43)申请公布日2017.05.10(21)申请号201611100771.3(22)申请日2016.12.05(71)申请人成都通甲优博科技有限责任公司地址610000四川省成都市天府新区天府大道南段846号(72)发明人谷瑞翔毛河罗林周剑(51)Int.Cl.G06K9/00(2006.01)G06K9/46(2006.01)权利要求书2页说明书6页附图1页(54)发明名称一种遗留物检测方法(57)摘要本发明构建了全新的环境自适应的双背景模型，分别为前背景模型的第一背景图像与后背景模型的第二背景图像，对第一背景图像和第二背景图像设立了独立的更新机制，第一背景图像根据场景图像更新，第二背景图像根据更新后的第一背景图像更新，并针对检测到的静态目标位置，进行选择性的局部更新。然后对第一、第二背景图像做差值运算，同时使用阴影抑制技术来去除静态目标位置在自然光下的阴影对检测到的静态目标位置的影响，形态学处理算法以及轮廓提取算法等处理图像形成遗留物区域，对环境的适应性、实时性、以及鲁棒性较高。CN106650638ACN106650638A权利要求书1/2页1.一种遗留物检测方法，提供一摄像机用于实时采集场景图像，其特征在于，初始化步骤，建立第一背景图像以及第二背景图像，第一背景图像由若干第一像点组成，第二背景图像由若干第二像点组成，每一所述第一像点的位置均与所述场景图像中的每一像点的位置一一对应，每一所述第二像点的位置点均与所述场景图像中的每一像点的位置一一对应；实时更新步骤，每隔第一帧数以第一策略更新第一背景图像中像点的像素值，每隔第二帧数以第二策略更新第二背景图像中像点的像素值，所述第二帧数大于第一帧数；所述第一策略包括将每一第一像点的像素值与该帧的场景图像中对应位置的像点的像素值比较，根据比较结果使每一所述第一像点的像素值趋近所述场景图像中对应位置的像点的像素值变化；所述第二策略包括将不处于静态目标位置的每一所述第二像点的像素值与该时刻第一背景图像中对应位置的第一像点的像素值比较，根据比较结果使每一所述第二像点的像素值趋近对应位置的所述第一像点的像素值变化；静态目标位置判断步骤，求每一位置的所述第一像点和所述第二像点的像素值差值，当任一位置的所述像素值差值大于第一预设阈值的持续时间超过第一预设遗留时间时，则判断该位置为所述静态目标位置；二值化图像生成步骤，根据第一预设阈值对所述静态目标位置判断步骤中每一位置二值化以生成二值化图像；遗留物检测步骤，对所述二值化图像生成步骤中生成的二值化图像进行轮廓提取以确定遗留物于所述场景图像中的遗留物区域。2.根据权利要求1所述的一种遗留物检测方法，其特征在于，所述初始化步骤中还包括以第三策略提取若干数量的所述场景图像进入第一队列，计算所述第一队列中所述场景图像的每一像点的亮度值，在第一队列中，分别将每一像点位置的出现次数最多的亮度值，将该亮度值作为第一背景图像上该像点位置的亮度值、和/或将该亮度值作为第二背景图像上该像点位置的亮度值。3.根据权利要求1所述的一种遗留物检测方法，其特征在于，所述第二帧数设置为第一帧数的10-30倍。4.根据权利要求1所述的一种遗留物检测方法，其特征在于，所述二值化图像生成步骤中，所述二值化图像中的像素值包括第一极值和第二极值，任一位置的所述像素值差值大于第一预设阈值时，则该位置于二值化图像中的像素值为第一极值；任一位置的所述像素值差值小于第一预设阈值时，则该位置的二值化图像的像素值为第二极值。5.根据权利要求1所述的一种遗留物检测方法，其特征在于，所述第一策略中，每次比较结果产生时，对应像点位置的所述第一像点的像素值变化为1。6.根据权利要求1所述的一种遗留物检测方法，其特征在于，所述第二策略中，每次比较结果产生时，对应像点位置的所述第二像点的像素值变化为1。7.根据权利要求1所述的一种遗留物检测方法，其特征在于，还包括阴影抑制步骤，通过建立阴影模板判断阴影区域并将所述阴影区域从所述第一背景图像中去除。8.根据权利要求1所述的一种遗留物检测方法，其特征在于，还包括形态学处理步骤，依次对所述二值化图像进行膨胀算法和腐蚀算法。2CN106650638A权利要求书2/2页9.根据权利要求1所述的一种遗留物检测方法，其特征在于，还包括形态学处理步骤，依次对所述二值化图像进行腐蚀算法和膨胀算法。10.根据权利要求1所述的一种遗留物检测方法，其特征在于，所述遗留物检测步骤中，对所述二值化图像进行轮廓提取后得到轮廓形状，所述轮廓形状的最小外接矩形为确定的所述遗留物区域。3CN106650638A说明书1/6页一种遗留物检测方法技术领域[0001]本发明涉及一种图像处理技术，具