差动式厚度测量装置.pdf
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差动式厚度测量装置.pdf
本发明公开了一种差动式厚度测量装置。本发明引入了OptoNCDT激光位移传感器作为测量机构,实现非接触式测量物体的厚度,避免了接触式测量效率低、误差大、易损伤等缺陷,避免了其他非接触式测量自身应用的局限性或对环境、人身、被测对象造成的危害;采用步进电机→齿轮减速机构→差动微位移传动机构→测量机构作为装置的整体结构。充分利用步进电机的优势,避免积累误差的出现,并通过齿轮减速将高转速转化为大转矩,使得测量机构的运动更加稳定、易控制;差动微位移机构具有微调、增力、均衡、补偿的优点,可提高测量精度。本发明实现了对
差动变压器式张力测量装置.pdf
本发明涉及一种测量装置,具体为差动变压器式张力测量装置,包括螺纹管和穿线螺帽,所述螺纹管包括管杆和管头,所述管头的直径小于管杆,所述管杆和管头的外壁设置的螺纹同向;穿线螺帽中部开设有线孔,所述线孔处固定连接一根可使得电线穿过弹簧中心的弹簧,弹簧端头固定连接有电线卡板,穿线螺帽与螺纹管连接。本发明的有益效果在于,可以预防电线被人拌到导致电线拉坏的情况。
非接触式厚度测量装置及方法.pdf
本发明提供一种光学元件的非接触式厚度测量装置,包括底座、滑动导轨、支撑架、齿条、齿轮、第一激光位移传感器、载物台、第二激光位移传感器、滑台和控制器,所述滑动导轨固定在底座上,所述滑台设置在滑动导轨上;所述支撑架固定在底座上,所述齿条设置在支撑架上,所述齿条上安装有第一激光位移传感器,所述齿轮与齿条配合;所述载物台固定在滑台上,所述第二激光位移传感器固定在底座上,所述第二激光位移传感器与第一激光位移传感器的测量点在同一竖直线上,所述第一激光位移传感器和第二激光位移传感器分别与控制器相连接。本发明测量的分辨率
厚度测量装置及厚度测量方法.pdf
本发明提供一种能够准确地测量试样厚度的厚度测量装置及厚度测量方法。厚度测量装置具有:第一透光构件,其具有第一参照面;第二透光构件,其与第一透光构件相向设置,具有第二参照面;第一投光部,其经由第一参照面向设置在第一透光构件和第二透光构件之间的试样照射来自光源的光;第一受光部,其接收来自第一参照面的反射光,并且经由第一参照面接收来自试样的反射光;第二投光部,其经由第二参照面向试样照射来自光源的光;第二受光部,其接收来自第二参照面的反射光,并且经由第二参照面接收来自受光试样的反射光;分光部,其对由第一受光部接收
膜层厚度测量方法及膜层厚度测量装置.pdf
本发明提供了一种膜层厚度测量方法及膜层厚度测量装置。膜层厚度测量方法包括如下步骤:提供一图像,图像为两个以上同轴嵌套的膜层的截面图;选择一待测量膜层的膜层截面,待测量膜层的膜层截面包括相对的第一边界和第二边界;采用第一边缘检测算法获取第一边界的第一轮廓;采用第二边缘检测算法获取第二边界的第二轮廓;计算第一轮廓中的多个像素点到第二轮廓的垂直距离,得到第一膜层的厚度。本发明简化了膜层厚度的测量步骤,节省了人力成本,提高了膜层厚度测量的精准度和可靠性。