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基于USB与FPGA的边界扫描测试卡研究的中期报告
一、研究背景和意义
边界扫描测试技术是一种用于检测和验证集成电路的设计和制造的方法。该技术通过在电路中插入一组可控制的扫描链，实现对整个电路的测试覆盖。然而，边界扫描测试在应用中仍存在一些问题，如测试时间长、测试成本高、测试覆盖率不足等。为了解决这些问题，研究者们提出了很多新的边界扫描测试方法和测试卡设计。其中，基于USB与FPGA的边界扫描测试卡是一种新型的测试卡设计方式，该设计通过利用USB接口和FPGA芯片实现测试卡与计算机之间的高速数据传输和测试卡的可编程控制，从而提高了测试效率和测试覆盖率。
二、研究目的和内容
本研究旨在研究基于USB与FPGA的边界扫描测试卡的设计和实现方法，包括测试卡硬件设计和软件编程。具体研究内容包括：
1.USB接口和FPGA芯片的选型和应用。
2.测试卡电路设计，包括扫描链控制电路、时序控制电路、电源管理电路等。
3.测试卡软件设计，包括测试卡与计算机之间的通信协议、测试程序设计等。
4.测试卡性能测试和与其他测试卡的比较分析。
三、研究进展和成果
目前，本研究已完成了部分硬件设计和软件编程工作，包括：
1.选型和购买了适用的USB接口和FPGA芯片。
2.完成了测试卡的扫描链控制电路设计和时序控制电路设计，并完成了PCB布局与优化。
3.完成了测试卡与计算机之间的通信协议设计和测试程序设计。
下一步的工作是进行测试卡电路和软件的调试和性能测试，并与其他测试卡进行比较分析。预计在接下来的两个月内完成研究工作。