

一种AMOLED显示屏缺陷检测方法、系统及存储介质.pdf
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相关资料
一种AMOLED显示屏缺陷检测方法、系统及存储介质.pdf
本发明提供了一种AMOLED显示屏缺陷检测方法、系统及存储介质,该检测方法包括:子图像灰度级差值步骤:采集AMOLED显示屏含缺陷图像并进行预处理,找到缺陷的大致位置的轮廓曲线;RSF模型步骤:将子图像灰度级差值步骤得到的AMOLED显示屏缺陷的大致位置的轮廓作为RSF模型步骤中所需要的初始轮廓曲线,然后再采用RSF模型方法对图像的缺陷进行精准的检测。本发明在AMOLED显示屏检测时,在常用方法RSF模型的基础上结合了子图像灰度级差值方法对缺陷进行定位并求取其大致轮廓,解决了RSF模型对初始轮廓敏感的问题
一种AMOLED显示屏Mura缺陷检测方法.pdf
本发明提供了一种AMOLED显示屏Mura缺陷检测方法,首先对AMOLED显示屏Mura图像采用均值漂移算法进行预分割,得到水平集算法所需的初始轮廓,然后再采用结合了图像的局部和全局信息的水平集算法对AMOLED显示屏Mura图像进行分割。本发明的有益效果是:解决了局部图像模型对初始轮廓敏感的问题,同时所提出的水平集算法结合了图像的局部和全局信息,解决了全局图像模型不能处理灰度不均图像的问题。
管道缺陷检测方法、系统、设备及存储介质.pdf
本申请公开了一种管道缺陷检测方法、系统、设备及存储介质,所述管道缺陷检测方法包括:获取待处理视频,所述待处理视频为包含管道图像的视频;根据所述待处理视频获取X个待处理视频片段,其中,X为大于1的整数;将所述X个待处理视频片段输入已训练的缺陷检测模型,获得所述X个待处理视频片段的检测结果,其中,所述缺陷检测模型为基于不同监督层次的数据训练集进行迭代训练获得;将所述X个待处理视频片段的检测结果进行时序后处理,得到所述待处理视频的目标检测结果。本申请解决了缺陷检测的准确率低的技术问题。
一种显示屏检测分选方法、系统以及存储介质.pdf
本发明适用于智能设备检测领域,提供了一种显示屏检测分选方法、系统以及存储介质,所述方法包括:根据预置质量数据分级标准,显示屏外观检测、外观检查、扫码身份绑定、混料检查;分选质量数据分级;对托盘的装载和定位;码垛、装载隔垫物;贴标、束带出货;所述显示屏外观检测、外观检查、扫码身份绑定、混料检查进一步包括:向下视觉系统检测显示屏向上外观混料检查,显示屏向上面检查项目:外观边角缺陷、软柔性电路板数据线缆弯折判定、保护增材有无、保护膜有无及保护膜颜色正确判定、柔性电路板接插件接口针脚排列缺陷、混料标签残留,本发明
一种纹理缺陷检测方法、系统、装置和存储介质.pdf
本发明公开了一种纹理缺陷检测方法、系统、装置和存储介质,其中方法包括以下步骤:获取待检测的图像,并采用预设的二维函数对图像进行标识后,获得多个二维坐标以及各二维坐标的标量值;结合标量值和预设方式分别计算各二维坐标的平均长度能量,以及所有二维坐标的平均图像能量;结合平均长度能量和平均图像能量检测图像的缺陷特征。本发明通过平均图像能量和平均长度能量进行结合去除分纹理特征,并保留下缺陷特征,能够有效的区分纹理特征和下缺陷特征,极大地提高了检测效率和质量;另外,本发明中的检测方法缺陷设计简便,运算速度快,适用于大