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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN110033433A(43)申请公布日2019.07.19(21)申请号201910158924.7(22)申请日2019.03.04(71)申请人深圳市智能机器人研究院地址518000广东省深圳市南山区粤海街道粤兴二道1号深圳虚拟大学园重点实验室平台大楼A306(72)发明人郑爽陈和平李耀楠(74)专利代理机构广州嘉权专利商标事务所有限公司44205代理人胡辉(51)Int.Cl.G06T7/00(2017.01)G06T7/41(2017.01)权利要求书2页说明书6页附图3页(54)发明名称一种纹理缺陷检测方法、系统、装置和存储介质(57)摘要本发明公开了一种纹理缺陷检测方法、系统、装置和存储介质,其中方法包括以下步骤:获取待检测的图像,并采用预设的二维函数对图像进行标识后,获得多个二维坐标以及各二维坐标的标量值;结合标量值和预设方式分别计算各二维坐标的平均长度能量,以及所有二维坐标的平均图像能量;结合平均长度能量和平均图像能量检测图像的缺陷特征。本发明通过平均图像能量和平均长度能量进行结合去除分纹理特征,并保留下缺陷特征,能够有效的区分纹理特征和下缺陷特征,极大地提高了检测效率和质量;另外,本发明中的检测方法缺陷设计简便,运算速度快,适用于大多纹理缺陷检测,可广泛应用于缺陷检测技术领域。CN110033433ACN110033433A权利要求书1/2页1.一种纹理缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤:获取待检测的图像,并采用预设的二维函数对图像进行标识后,获得多个二维坐标以及各二维坐标的标量值;结合标量值和预设方式分别计算各二维坐标的平均长度能量,以及所有二维坐标的平均图像能量;结合平均长度能量和平均图像能量检测图像的缺陷特征。2.根据权利要求1所述的一种纹理缺陷检测方法,其特征在于,所述标量值为图像的灰度值。3.根据权利要求1所述的一种纹理缺陷检测方法,其特征在于,所述平均长度能量包括x轴方向平均长度能量和y轴方向平均长度能量,所述结合标量值和预设方式分别计算各二维坐标的平均长度能量这一步骤,具体包括以下步骤:按照预设方式获取各二维坐标在x轴方向相邻的二维坐标的标量值,并根据获得的标量值计算该二维坐标的x轴方向平均长度能量;按照预设方式获取各二维坐标在y轴方向相邻的二维坐标的标量值,并根据获得的标量值计算该二维坐标的y轴方向平均长度能量。4.根据权利要求3所述的一种纹理缺陷检测方法,其特征在于,所述结合平均长度能量和平均图像能量检测图像的缺陷特征这一步骤,具体包括以下步骤:结合所有二维坐标的x轴方向平均长度能量和平均图像能量获取图像的x轴能量差值矩阵;结合所有二维坐标的y轴方向平均长度能量和平均图像能量获取图像的y轴能量差值矩阵;将x轴能量差值矩阵和y轴能量差值矩阵进行叠加后,生成能量差值图;根据能量差值图检测图像的缺陷特征。5.根据权利要求3所述的一种纹理缺陷检测方法,其特征在于,所述按照预设方式获取各二维坐标在x轴方向相邻的二维坐标的标量值这一步骤,具体为:依次以各二维坐标为中心,在x轴方向上获取预设个数与该二维坐标相邻的二维坐标的标量值;所述按照预设方式获取各二维坐标在y轴方向相邻的二维坐标的标量值这一步骤,具体为:依次以各二维坐标为中心,在y轴方向上获取预设个数与该二维坐标相邻的二维坐标的标量值。6.根据权利要求5所述的一种纹理缺陷检测方法,其特征在于,所述根据获得的标量值计算该二维坐标的x轴方向平均长度能量这一步骤,具体为:根据获得的标量值计算该二维坐标的x轴方向长度能量后,结合x轴方向长度能量和标量值的个数计算该二维坐标的x轴方向平均长度能量;所述根据获得的标量值计算该二维坐标的y轴方向平均长度能量这一步骤,具体为:根据获得的标量值计算该二维坐标的y轴方向长度能量后,结合y轴方向长度能量和标量值的个数计算该二维坐标的y轴方向平均长度能量。7.一种纹理缺陷检测系统,其特征在于,包括:2CN110033433A权利要求书2/2页标识模块,用于获取待检测的图像,并采用预设的二维函数对图像进行标识后,获得多个二维坐标以及各二维坐标的标量值;计算模块,用于结合标量值和预设方式分别计算各二维坐标的平均长度能量,以及所有二维坐标的平均图像能量;检测模块,用于结合平均长度能量和平均图像能量检测图像的缺陷特征。8.根据权利要求7所述的一种纹理缺陷检测系统,其特征在于,所述标量值为图像的灰度值。9.一种计算机代码自动生成装置,其特征在于,包括存储器和处理器,所述存储器用于存储至少一个程序,所述处理器用于加载所述至少一个程序以执行权利要求1-6任一项所述方法。10.一种存储介质,其中存储有处理器可执行的指令,其特征在于,所述处理器可执行的指令在由处