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ZnO薄膜和异质结构的光电性能研究的中期报告
本次研究的目的是探究ZnO薄膜和异质结构的光电性能特性，以期为光电器件的制备提供一定的理论依据。中期报告主要介绍了目前的研究进展和计划。
一、ZnO异质结构的制备
为了得到具有良好光电性能的ZnO异质结构，我们采用了两种制备方法：热蒸发法和溶液法。通过不同的方法实现ZnO异质结构的控制生长，并对所得样品性能进行了表征。
二、ZnO异质结构的结构表征
对样品进行了XRD、TEM、PL等多种表征手段，发现ZnO异质结构中的ZnO发生晶格畸变，其中的缺陷和杂质等的存在对其光电性能产生影响。
三、ZnO异质结构的光电性能分析
我们采用PL、电学性能等方面的测试手段，主要是分析了ZnO异质结构的光电性能，探究了ZnO异质结构中的电荷转移机制和表面缺陷对其光电性能的影响。
四、下一步工作计划
1.对ZnO异质结构进行更深入的表征，探究杂质和缺陷形成机制。
2.测量不同条件下的ZnO异质结构对光电性能的响应，为生产光电器件提供更为详细的理论依据。
3.研究ZnO异质结构在光电器件中的应用，探究其在导电材料和太阳能电池中的应用。