基于边界扫描的电路板快速测试系统设计.doc
sy****28
在线预览结束,喜欢就下载吧,查找使用更方便
相关资料
基于边界扫描的电路板快速测试系统设计.doc
深圳金百泽电子科技股份有限公司(HYPERLINK"http://www.kbsems.com"www.kbsems.com)成立于1997年,是HYPERLINK"http://www.kbsems.com"线路板行业十强企业,总部设在深圳,研发和生产分布在深圳、惠州和西安等地,为客户提供产品研发的HYPERLINK"http://www.kbsems.com"PCB设计、HYPERLINK"http://www.kbsems.com"PCB快速制造、HYPERLINK"htt
基于FPGA的边界扫描测试系统设计.docx
基于FPGA的边界扫描测试系统设计基于FPGA的边界扫描测试系统设计摘要:边界扫描测试是数字电路测试中一种常见的测试方法,它可以有效地检测电路中的故障。本文提出了一种基于FPGA的边界扫描测试系统设计方案。通过在FPGA中实现边界扫描测试模块,实现了对数字电路的快速和准确测试。同时,通过引入片上电路(SOC)设计,提高了测试系统的集成度和扩展性。在实现过程中,采用了verilog硬件描述语言,并使用ModelSim进行仿真和验证,结果表明本方案具有较好的可行性和可靠性。1.引言边界扫描是一种先进的数字电路
基于SerDes系统芯片边界扫描测试设计与电路实现.docx
基于SerDes系统芯片边界扫描测试设计与电路实现1.研究背景随着数字化程度的不断提高和通信技术的快速发展,高速数据通信和高速储存系统的需求越来越强烈。在这种情况下,串行器/解串器(SerDes)逐渐成为处理高速数字数据信号的有效工具。SerDes系统通常用于高速数据传输,例如网络、储存、雷达等。SerDes系统的功能通常通过面向BitErrorRate(BER)的Design-for-Testability(DFT)技术进行测试,其中边界扫描(BoundaryScan)测试是最常用的测试技术之一。2.S
基于边界扫描技术的集成电路测试系统设计与实现.docx
基于边界扫描技术的集成电路测试系统设计与实现随着集成电路技术的发展,集成度越来越高,结构越来越复杂。因此,测试成为了集成电路生产中的关键问题。集成电路测试可以帮助生产商检测出错误的芯片,同时降低生产成本和提高生产效率。边界扫描技术是一种常用的测试方法,它可用于测试集成电路中的逻辑电路和存储电路。边界扫描技术可以通过向芯片的外部引出一个扫描输入端和一个扫描输出端,使得芯片内部的各个逻辑单元都能通过扫描技术进行测试。对于存储器的测试,边界扫描技术可以极大的提高测试效率和测试准确性。基于边界扫描技术的测试系统主
DSP电路板测试中的边界扫描技术.docx
DSP电路板测试中的边界扫描技术边界扫描技术(BoundaryScanTesting)是一种基于JTAG(JointTestActionGroup)标准的测试技术,广泛应用于数字信号处理(DSP)电路板的测试中。边界扫描技术通过在芯片周围添加一组边界扫描单元(BoundaryScanCell,BSC)来实现,可以有效地检测和诊断数字电路中的硬件故障。本文将介绍边界扫描技术的基本原理、测试流程、测试方法和应用。一、基本原理边界扫描技术主要基于一种被称为串行扫描链(ScanChain)的技术。扫描链包括了多个