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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN110360952A(43)申请公布日2019.10.22(21)申请号201910584658.4(22)申请日2019.07.01(71)申请人西安电子科技大学地址710000陕西省西安市雁塔区太白南路2号(72)发明人邵晓鹏吴雨祥朱进进蔡晓健孙雪莹计婷李伟白亚烁何顺福(74)专利代理机构西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙)61230代理人刘长春(51)Int.Cl.G01B11/25(2006.01)权利要求书2页说明书9页附图10页(54)发明名称一种相移轮廓术三维测量方法、系统、设备及其存储介质(57)摘要本发明属于三维位置测量领域,具体涉及一种相移轮廓术三维测量方法、系统、设备及其存储介质,方法步骤包括:产生目标图像;获取目标图像;根据目标图像得到彩色条纹图;对彩色条纹图进行校正操作,以得到校正条纹图;根据校正条纹图得到相位信息;根据相位信息得到三维形貌信息。本发明具有可以解决光源不稳定和环境光的变化导致的物体的相位误差问题;能够满足多种工业领域的需求以及降低三维检测经济成本;在相移轮廓术系统中基于彩色编码条纹的相位误差校正方法简单,并具有很高的鲁棒性,灵活性和精度。CN110360952ACN110360952A权利要求书1/2页1.一种相移轮廓术三维测量方法,其特征在于,包括:产生目标图像;获取所述目标图像;根据所述目标图像得到彩色条纹图;对所述彩色条纹图进行校正操作,以得到校正条纹图;根据所述校正条纹图得到相位信息;根据所述相位信息得到三维形貌信息。2.根据权利要求1所述的相移轮廓术三维测量方法,其特征在于,所述目标图像包括R通道图和B通道图。3.根据权利要求1所述的相移轮廓术三维测量方法,其特征在于,获取所述目标图像,包括:对所述目标图像进行编码,以得到具有π相移差的目标条纹图像;对所述具有π相移差的目标条纹图像进行N步相移产生彩色条纹图。4.根据权利要求1所述的相移轮廓术三维测量方法,其特征在于,对所述彩色条纹图进行校正操作,以得到校正条纹图,包括:对所述彩色条纹图进行对比度和背景光强校正操作,以得到初级校正条纹图;对所述初级校正条纹图进行消除背景光操作,以得到次级校正条纹图;对所述次级校正条纹图进行归一化处理,以得到校正条纹图。5.一种相移轮廓术三维测量系统,其特征在于,包括:光源发射模块,用于产生目标图像;图像采集模块,用于获取所述目标图像;图像处理模块,用于根据所述目标图像得到彩色条纹图;还用于对所述变形彩色条纹图进行校正操作,以得到校正条纹图;用于根据所述校正条纹图得到相位信息;最终根据所述相位信息得到三维形貌信息。6.根据权利要求5所述的相移轮廓术三维测量系统,其特征在于,图像采集模块包括:图像编码单元,用于对所述目标图像进行编码,以得到具有π相移差的目标条纹图像;图像移相单元,用于对所述具有π相移差的目标条纹图像进行N步相移产生彩色条纹图。7.根据权利要求5所述的相移轮廓术三维测量系统,其特征在于,图像处理模块包括:图像编码单元,用于根据所述目标图像得到彩色条纹图;校正单元,用于对所述彩色条纹图进行校正操作,以得到校正条纹图;图像转换单元,用于根据所述校正条纹图得到相位信息;三维转换单元,根据所述相位信息得到三维形貌信息。8.根据权利要求7所述的相移轮廓术三维测量系统,其特征在于,所述校正单元包括:图像处理子单元,用于对所述彩色条纹图进行对比度和背景光强校正操作,以得到初级校正条纹图;背景光消除子单元,用于对所述初级校正条纹图进行消除背景光操作,以得到次级校正条纹图;归一化子单元,用于对所述次级校正条纹图进行归一化处理,以得到校正条纹图。2CN110360952A权利要求书2/2页9.一种相移轮廓术三维测量装置,其特征在于,包括:光源设备,用于产生目标图像;图像采集器,用于获取所述目标图像;处理器;存储器,用于存储有计算机程序;所述处理器执行所述计算机程序的步骤为:根据所述目标图像得到彩色条纹图;对所述彩色条纹图进行校正操作,以得到校正条纹图;根据所述校正条纹图得到相位信息;根据所述相位信息得到三维形貌信息。10.一种存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于:所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至3中任一项所述的方法的步骤。3CN110360952A说明书1/9页一种相移轮廓术三维测量方法、系统、设备及其存储介质技术领域[0001]本发明属于三维位置测量领域,具体涉及一种相移轮廓术三维测量方法、系统、设备及其存储介质。背景技术[0002]在现有的三维物体面形测量领域中,基于相移轮廓术(PhaseShiftingProfilometry,PSP)的三维物体测量技术在各个领域已被广泛应用,例如,工业检测,人脸