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(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115526885A(43)申请公布日2022.12.27(21)申请号202211302404.7(22)申请日2022.10.24(71)申请人杭州安脉盛智能技术有限公司地址310052浙江省杭州市滨江区西兴街道阡陌路482号B楼第十七层(72)发明人何铭仪王海龙许江华吴婕倪军(74)专利代理机构北京集佳知识产权代理有限公司11227专利代理师张海燕(51)Int.Cl.G06T7/00(2017.01)G06T7/13(2017.01)G06T5/00(2006.01)G06T5/20(2006.01)权利要求书2页说明书9页附图8页(54)发明名称一种产品图像缺陷检测方法、系统、装置及介质(57)摘要本申请公开了一种产品图像缺陷检测方法、系统、装置及介质,主要应用于产品检测领域,该方法包括:获取待检测产品对应的点云图像,根据点云图像对应的点云信息获取点云轮廓线,根据多项式拟合方式对点云轮廓线进行拟合得到对应的拟合轮廓线,通过两轮廓线进行差分处理,根据差分处理的结果判断产品是否含有缺陷。通过上述方法,能够单通过一个差分处理的结果反应所述产品是否含有缺陷,避免将产品的各特征与分别设置的各类阈值进行比较,有效地提高了产品检测的速度,减少了对产品的检测时间,提高了检测效率;本申请还提供的产品图像缺陷检测系统、装置及介质与上述方法对应,具有相同的有益效果。CN115526885ACN115526885A权利要求书1/2页1.一种产品图像缺陷检测方法,其特征在于,包括:获取图像采集设备采集的待检测产品的点云图像;根据所述点云图像对应的点云信息获取所述点云图像对应的点云轮廓线;通过多项式拟合方式对所述点云轮廓线进行拟合得到拟合轮廓线;对所述拟合轮廓线与所述点云轮廓线进行差分处理;根据所述差分处理的结果判断所述产品是否含有缺陷。2.根据权利要求1所述的产品图像缺陷检测方法,其特征在于,所述通过多项式拟合方式对所述点云轮廓线进行拟合得到拟合轮廓线包括:获取所述点云轮廓线两端对应的点云高度数据;通过所述点云高度数据与一次多项式拟合公式获取拟合直线;对所述点云轮廓线与所述拟合直线进行差分处理,通过所述差分处理后的差分值与预设阈值的关系获取有效数据;通过所述有效数据与二次多项式拟合公式获取所述拟合轮廓线。3.根据权利要求2所述的产品图像缺陷检测方法,其特征在于,所述点云高度数据为两组,分别为第一点云高度数据,第二点云高度数据;所述获取所述点云轮廓线两端对应的点云高度数据包括:对所述点云轮廓线进行求导,并获取求导结果中导数值最大的坐标点;根据所述坐标点将所述点云轮廓线分为前一部分和后一部分;从所述前一部分获取第一预设数量的所述第一点云高度数据;从所述后一部分获取第二预设数量的所述第二点云高度数据。4.根据权利要求3所述的产品图像缺陷检测方法,其特征在于,所述拟合直线为两条,分别为第一拟合直线、第二拟合直线;所述对所述点云轮廓线与所述拟合直线进行差分处理,通过所述差分处理后的差分值与预设阈值的关系获取有效数据包括:对所述点云轮廓线与所述第一拟合直线进行差分处理,获取所述差分处理后差分值大于所述预设阈值的第一个点的第一坐标;对所述点云轮廓线与所述第二拟合直线进行差分处理,获取所述差分处理后差分值大于所述预设阈值的第一个点的第二坐标;将所述点云轮廓线上的所述第一坐标与所述第二坐标以及所述第一坐标与所述第二坐标之间的各点的坐标作为所述有效数据。5.根据权利要求1至4任一项所述的产品图像缺陷检测方法,其特征在于,所述根据所述差分处理的结果判断所述产品是否含有缺陷包括:获取所述差分处理的结果中的差分值,并计算出所述差分值对应的差分均值;判断所述差分均值是否大于差分阈值;若大于,则确定所述产品含有缺陷;若不大于,则确定所述产品不含有缺陷。6.根据权利要求1所述的产品图像缺陷检测方法,其特征在于,所述根据所述点云图像对应的点云信息,获取所述点云图像对应的点云轮廓线包括:获取垂直于所述点云图像的直线;获取所述直线对应于所述点云图像上的各点的所述点云信息;2CN115526885A权利要求书2/2页根据所述点云信息获取所述点云轮廓线。7.根据权利要求5所述的产品图像缺陷检测方法,其特征在于,所述获取图像采集设备采集的产品的点云图像之后;所述根据所述点云图像对应的点云信息,获取所述点云图像对应的点云轮廓线之前还包括:对所述点云图像进行预处理,得到有效点云图像;其中所述预处理为均图像增强和/或高斯滤波处理;所述根据所述点云图像对应的点云信息,获取所述点云图像对应的点云轮廓线包括:根据所述有效点云图像对应的点云信息,获取所述点云图像对应的所述点云轮廓线。8.一种产品图像缺陷检测系统,其特征在于,包括:第一获