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本申请公开了线状缺陷检测方法、装置、介质、设备及系统,该方法包括:获取待测目标图像,并基于基准坐标系对待测目标图像进行位姿变换;基于位姿变换后的待测目标图像,获取包含被测目标的待测区域图像,对待测区域图像进行多次缩放处理,获得多个缩放图像;基于每个缩放图像中每个像素点的灰度值,获取每个缩放图像中每个像素点的法向量;比较每个像素点的法向量与预设线状缺陷阈值的大小关系,依据大小关系确定所述像素点中的线状缺陷点。本申请通过求取不同尺寸的缩放图像中的每个像素点的法向量,根据每个像素点的法向量与预设线状缺陷阈值的大小关系,确定线状缺陷点,实现使用同一参数对不同线宽线状缺陷的检测,检测准确度高。