一种线状缺陷检测方法、装置、介质、设备及系统.pdf
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一种线状缺陷检测方法、装置、介质、设备及系统.pdf
本申请公开了线状缺陷检测方法、装置、介质、设备及系统,该方法包括:获取待测目标图像,并基于基准坐标系对待测目标图像进行位姿变换;基于位姿变换后的待测目标图像,获取包含被测目标的待测区域图像,对待测区域图像进行多次缩放处理,获得多个缩放图像;基于每个缩放图像中每个像素点的灰度值,获取每个缩放图像中每个像素点的法向量;比较每个像素点的法向量与预设线状缺陷阈值的大小关系,依据大小关系确定所述像素点中的线状缺陷点。本申请通过求取不同尺寸的缩放图像中的每个像素点的法向量,根据每个像素点的法向量与预设线状缺陷阈值的大
一种产品图像缺陷检测方法、系统、装置及介质.pdf
本申请公开了一种产品图像缺陷检测方法、系统、装置及介质,主要应用于产品检测领域,该方法包括:获取待检测产品对应的点云图像,根据点云图像对应的点云信息获取点云轮廓线,根据多项式拟合方式对点云轮廓线进行拟合得到对应的拟合轮廓线,通过两轮廓线进行差分处理,根据差分处理的结果判断产品是否含有缺陷。通过上述方法,能够单通过一个差分处理的结果反应所述产品是否含有缺陷,避免将产品的各特征与分别设置的各类阈值进行比较,有效地提高了产品检测的速度,减少了对产品的检测时间,提高了检测效率;本申请还提供的产品图像缺陷检测系统、
一种面板缺陷增强检测方法及系统及装置及介质.pdf
本发明公开了一种面板缺陷增强检测方法及系统及装置及介质,涉及显示面板检测技术领域,通过获得样本面板及对应的第一灰度增强参数,将待检测面板对应的灰度曲线与样本面板的灰度曲线进行匹配,根据匹配结果选择对应的灰度增强参数,实现了对待检测面板图像的自动化增强;基于样条回归对图像进行增强,保留了图像细节,提高了缺陷检出的准确率;对面板单色图像进行处理,定位面板坏点,实现了面板图像的自动化增强和缺陷检出。
缺陷检测方法、装置、设备及存储介质.pdf
本发明属于检测技术领域,公开了一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质。该方法包括:获取无缺陷图像和目标检测图像;根据预设缺陷样本生成模型对所述无缺陷图像进行缺陷生成,得到仿真缺陷样本;根据所述仿真缺陷样本对所述目标检测图像进行缺陷检测,得到缺陷检测结果。通过上述方式,根据预设缺陷样本生成模型和无缺陷图像进行缺陷生成得到仿真缺陷样本,通过大量仿真缺陷样本图像对缺陷样本图像集进行增广,增大了缺陷样本数量,利用数量增加后的缺陷样本对目标检测图像进行检测识别,提高了小样本缺陷检测时的精度。
缺陷检测方法、装置、设备及存储介质.pdf
本申请实施例公开了一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质,所述方法包括:确定待检测显示屏的目标灰度图像;对所述目标灰度图像依次进行至少两次阈值分割,并根据最末次阈值分割结果,确定所述待检测显示屏的缺陷区域;其中,各次阈值分割时采用的分割阈值根据本次阈值分割的参考灰度图像确定;首次阈值分割的参考灰度图像为所述目标灰度图像,非首次阈值分割的参考灰度图像为前次阈值分割的输出图像;通过上述技术方案,实现了在散弱缺陷提取过程中,保证缺陷轮廓整体的完整性。