图像缺陷检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品.pdf
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图像缺陷检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品.pdf
本申请实施例提出了一种图像缺陷检测方法、装置、电子设备、计算机存储介质和计算机程序产品,该方法包括:获取第一样本集;根据所述第一样本集对第一初始模型进行预训练,得到训练完成的第一模型;所述第一样本集包括多张无缺陷图像;获取第二样本集;根据所述第二样本集对第二初始模型进行训练,得到训练完成的第二模型;所述第二样本集包括设置有正样本标签的无缺陷图像和设置有负样本标签的有缺陷图像;其中,所述第二初始模型是基于所述第一模型得到的;获取待检测图像,使用所述第二模型对所述待检测图像进行缺陷检测。
微管缺陷检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品.pdf
本申请涉及一种微管缺陷检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品。通过获取待测半导体晶圆的待检测图像,对待检测图像进行滤波处理,得到滤波处理后的第一检测图像,进一步对第一检测图像进行自适应阈值处理,得到目标检测图像,从而根据目标检测图像以及预设的分类算法,确定待测半导体晶圆的微管缺陷。本方法在获取待测半导体晶圆的待检测图像后,采用图像处理算法,对待检测图像进行分析处理,从而识别待测半导体晶圆的微管缺陷,替代传统的人工利用显微镜目检的识别方式,提高了半导体晶圆的微管缺陷准确率和检测效率,降低检测成本。而且,在
缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品.pdf
本公开涉及图像数据处理技术领域,尤其涉及一种缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品。所述方法包括:获取待检测图像以及所述待检测图像对应的模板图像;根据所述待检测图像和所述模板图像,确定所述待检测图像中的缺陷的候选框;至少根据所述候选框对应的图像块在形态学变换前后的差异信息,确定所述候选框对应的缺陷检测结果。本公开利用候选框对应的图像块在形态学变换前后的差异信息对候选框进行缺陷检测,能够提高缺陷检测的准确性。
缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品.pdf
本公开涉及一种图像数据处理技术领域,尤其涉及一种缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品。所述方法包括:获取待检测图像以及所述待检测图像对应的模板图像;获得所述待检测图像与所述模板图像的差异图像;根据所述差异图像,确定所述待检测图像中的缺陷的候选框;获得所述候选框在所述模板图像上的第一图像块,以及所述候选框在所述差异图像上的第二图像块;通过预先训练的第一神经网络对所述第一图像块和所述第二图像块进行处理,得到所述候选框对应的缺陷检测结果。本公开利用第一神经网络对缺陷的候选框在模板图像上的第一图像块和
图像分享方法、装置、设备、存储介质和程序产品.pdf
本申请公开了一种图像分享方法、装置、设备、存储介质和程序产品,属于互联网技术领域。该方法包括:接收用户的第一输入;响应于所述第一输入,将至少两张目标图像分享至与第一人物图像对应的第一联系人;所述第一人物图像为所述至少两张目标图像中相同人物对应的人物图像。