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第二章X-射线分析Chapter2X-rayDiffraction一般用于X-ray衍射分析的波长在:0.05~0.25nm 而用于X-ray无损探伤的波长在:0.005~0.10nm DiscoveryofX-ray(X-ray的发现) 1895年byRöntgen(WilhelmConradRöntgen)PhysicalscientistfromGermany 在研究阴极射线放射性的时候发现的。 Thefourmostimportanttypes[四种主要类型] Radiography(X-ray放射线照相术)BasedonX-rayabsorption 应用于无损探伤(non-destructivemethodoftestingsolidobjective) 医疗照相(病理分析)(detectionofbrokenbonesforeignobjectsenlargedordamagedinternalorgans)X-raycrystallography(X-ray晶体学)BasedonthewavepropertiesofX-ray 可以应用在晶体结构crystallstructure、粒度大小particlesize、织构polymorphism、块状固体或粉末相组成compositionofasolidorpowders、择优取向preferredorientation、位错disorder等 X-rayFluorescenceAnalysis(X-ray荧光分析)BasedontheparticlespropertiesandhighenergyofX-ray(X-ray的粒子特性和高能激发激发特性) 应用于元素的定性定量分析qualitativeandquantitativeelementalanalysis qualitativebywavelengthorenergies(特征能量) quantitativebyIntensity(光的强度) Radiotherapy(X-ray放射线疗法)主要应用在生物学、医学领域不再详细介绍本章的主要内容: X-rayDiffraction X-rayFluorescenceandrelatedtechniques (可能放在后面)电磁谱的分类:Theelectromagneticspectrum(wavelengthm) 10-1210-910-610-31103X-rayspectraPropertiesofX-rayspectra Continuousspectra 操作电压V 极限波长λo 最强点波长λm 相对强度I e*V=hVm=h*c/λo λo=hc/(eV)=(hc/e)/V =1.24/V(nm)电流增加:强度增加,但是最大强度波长和临界波长不变化 靶材:原子序数越大,强度越高 特征谱线(Characteristicspectraorlines) 只有在激发电压大于临界电压的时候才会产生特征谱线 其中:Kα、Kβ 只和靶材的类型相关, 和激发电压无关 称为特征X-ray特征射线的产生 只有在操作电压大于激发电压的情况下,从阴极发射出来的电子,能够激发靶材原子内部的电子,使得原子内部产生空穴,外围轨道上的电子为了使的原子处于能量最低的稳定状态,就会向内层发生跃迁,多余的能量,以射线的方式释放出来,根据所填充空穴的位置,可以将射线分成K系、L系、M系等。 K系是指外层电子跃迁到最内层即K层空穴时,所释放的射线,从L层到K层的称为Kα特征谱线,从M层到K层的称为Kβ特征谱线,依次类推。特征谱线的能量可以用下式表示: E特征=E外层-E内层 由此可见在能量上Kα<Kβ,同理,Lα<Lβ,但是,从前面的特征射线图谱上,还看到强度上Kα>Kβ,这两点是否矛盾?而这是怎样的关系? 能量和强度是两个不同的概念,不能相互比较,对于能量是由于能级差别引起来的,但是特征射线的强度是由于电子跃迁的数量决定的。 从跃迁几率上讲,由于L层离K层非常近,容易首先发生跃迁,其跃迁几率远远大于M层向K层的跃迁,所以特征射线的强度就会有Kα>Kβ变化规律: 1.只有操作电压大于临界激发电压,才有特征谱线。 2.谱线的强度和激发电压存在对应关系如下: I特征=CI(V-V激)n 注释:C----比例系数 I-----管电流 n-----影响因子(k层取1.5,L层取2.0) 3.特征波长 (1/λ)1/2=K(Z-δ)其中:K、δ是常数Z原子序数 4.一般操作电压远远大于激发电压,原因在于: 当电压在激发电压附近时,激发效率太低,强度不够,能量大部分转化成为热释放。根据以上特点和衍射分析的要求 波长尽量单一(滤掉不必要的波长,滤波) 强度