碳化硅半导体器件及制备方法.pdf
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碳化硅半导体器件及制备方法.pdf
(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利说明书(10)申请公布号CN113972261A(43)申请公布日2022.01.25(21)申请号CN202111182922.5(22)申请日2021.10.11(71)申请人松山湖材料实验室地址523000广东省东莞市松山湖大学创新城A1栋(72)发明人陈昭铭殷鸿杰罗惠馨夏经华张安平(74)专利代理机构44224广州华进联合专利商标代理有限公司代理人潘宏洲(51)Int.CIH01L29/06(20060101)H01L29/10(20060101
碳化硅器件及其制备方法和半导体器件.pdf
(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利说明书(10)申请公布号CN113130647A(43)申请公布日2021.07.16(21)申请号CN201911398699.0(22)申请日2019.12.30(71)申请人比亚迪半导体股份有限公司地址518119广东省深圳市大鹏新区葵涌街道延安路1号(72)发明人朱辉肖秀光(74)专利代理机构44325深圳众鼎专利商标代理事务所(普通合伙)代理人张美君(51)Int.CIH01L29/78(20060101)H01L29/06(20060101)
半导体器件的制备方法及半导体器件.pdf
本申请涉及一种半导体器件的制备方法及半导体器件。该半导体器件的制备方法包括:在衬底表面形成外延层,在外延层背离衬底的一侧形成第一氧化层;在外延层内形成掺杂区;在高温炉内进行预扩散,预扩散温度为950℃‑1050℃;通过漂酸的方式对部分第一氧化层以及第一氧化层表面残留的有机物进行去除;在高温炉内进行再扩散,再扩散温度为800℃‑900℃,在第一氧化层背离衬底的一侧形成牺牲层;通过漂酸的方式对牺牲层、部分第一氧化层以及第一氧化层表面残留的有机物进行去除。本申请通过在低温条件下生长出比较疏松的牺牲层并去除牺牲层
一种碳化硅基半导体器件的制备方法.pdf
本发明提供了一种碳化硅基半导体器件的制备方法,包括:取一碳化硅外延片;在碳化硅外延片表面刻蚀出碳化硅沟槽;在碳化硅外延片上生长一层屏蔽电场介质层;整片刻蚀,只保留侧壁部分,最终形成所需的屏蔽电场介质层;清洗碳化硅外延片,然后淀积肖特基金属,最终形成只在碳化硅沟槽内部的肖特基金属一,快速退火,使肖特基金属一与碳化硅沟槽底部的碳化硅形成肖特基接触;在碳化硅外延片正面涂胶保护,背面淀积金属,与碳化硅外延片形成欧姆接触金属;清洗碳化硅外延片,然后在碳化硅外延片表面淀积肖特基金属,形成肖特基接触金属二,快速退火,与
低界面态密度碳化硅功率半导体器件的制备方法.pdf
本发明涉及一种低界面态密度碳化硅功率半导体器件的制备方法。按照本发明提供的技术方案,一种低界面态密度碳化硅功率半导体器件的制备方法,提供碳化硅晶片、制备于所述碳化硅晶片正面上的氧化膜以及制备于所述氧化膜上的正面元胞结构;在碳化硅晶片上氧化膜,包括如下步骤:步骤1、采用热氧化工艺在碳化硅晶片上制备得到氧化底膜,并对所述碳化硅晶片以及氧化底膜进行所需的氧化后退火工艺;步骤2、在上述氧化底膜上制备所需的硅膜层,所述硅膜层覆盖在氧化底膜上;步骤3、对硅膜层进行热氧化,并热氧化退火后,制备得到覆盖于碳化硅晶片上的氧