设备控制方法、装置、芯片、电子设备及存储介质.pdf
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设备控制方法、装置、芯片、电子设备及存储介质.pdf
本申请实施例公开了一种设备控制方法、装置、芯片、电子设备及存储介质。所述方法包括:若所述电子设备的第一通信模式处于运行状态,且所述电子设备在通过所述电子设备的第二通信模式传输数据,确定目标资源,所述目标资源为所述电子设备进行通信所需的资源;降低所述第一通信模式对所述目标资源的占用程度。从而通过上述方式使得当电子设备在通过第二通信模式进行数据传输时,会降低处于运行状态的第一通信模式对于用于通信的资源的占用程度,进而有利于提升通过第二通信模式进行数据传输的效率,也使得电子设备能够更好的完成第二通信模式所对应的
应用控制方法、装置、电子设备、芯片及存储介质.pdf
本申请适用于触控技术领域,提供了一种应用控制方法、装置、电子设备、芯片及存储介质。所述应用控制方法包括:在接收到对第一应用程序的图标的第一按压操作时,获取所述第一按压操作的触控压力值的变化趋势;若所述第一按压操作的触控压力值的变化趋势为第一目标变化趋势,则调用悬浮窗显示所述第一应用程序的界面。通过本申请可控制应用程序进入小窗模式。
芯片设计方法、装置、芯片、电子设备及存储介质.pdf
本发明公开了一种芯片设计方法,应用于芯片设计技术领域,包括:获取目标领域内应用程序的行为特征的量化值,该行为特征表示该应用程序在通用处理器上运行的过程中表现出的行为特征;根据该行为特征的量化值,构建该目标领域的通用特征模型;基于芯片评估指标,优化该目标领域的通用特征模型,得到该目标领域的定制特征模型;根据该通用特征模型和该定制特征模型,设计该目标领域的芯片。本发明还公开了一种芯片设计装置、芯片、电子设备及存储介质,其区别于通用计算芯片和专用计算芯片的设计方法,面向特定领域的芯片设计,可兼顾高灵活性和高能量
芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质.pdf
本公开提出一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质,其中,该方法包括:获取待验证芯片的性能数据的传输时段;根据传输时段,确定至少一个第一子时段以及各第一子时段中的第二子时段;根据各第一子时段对应的时长和设定目标性能指标,确定对应的第一子时段中的第二子时段的期望目标性能指标;根据各设定目标性能指标以及各期望目标性能指标,运行待验证芯片,以得到待验证芯片在各所述第一子时段的监测目标性能指标,由此,通过第一子时段的设定目标性能指标以及第二子时段的期望目标性能,可使待验证芯片在各第一子时段的监测目标性能指标,符
用于芯片验证的方法及装置、电子设备、存储介质.pdf
本申请涉及芯片验证技术领域,公开一种用于芯片验证的方法,包括:将应用固件和应用固件的长度写入多个待测芯片;将校验固件写入多个待测芯片的随机存取存储器区,触发各待测芯片按照校验固件运行;校验固件用于触发待测芯片根据应用固件的长度在待测芯片中读取并计算应用固件,获得应用固件的校验值;分别获取各校验值;根据各校验值分别确定各待测芯片下载的应用固件是否正确。这样,通过主控芯片触发各待测芯片,使各待测芯片自行根据校验固件计算校验值。主控芯片只需要读取校验值进行比较,便能确定待测芯片下载的应用固件是否正确,能够提高主